[전자공학실험] 멀티플랙서와 비교기-결과레포트
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소개글

[전자공학실험] 멀티플랙서와 비교기-결과레포트에 대한 보고서 자료입니다.

목차

1. 멀티플랙서

2. 비교기

3. majority 회로

본문내용

출력이 된 것이고, 이것은 A와 B가 같다는 것을 나타낸다. A와 B가 다를 경우 즉 A에 0000 , B에 1000이 입력된 경우에는 거의 0V가 출력되었고, 이것은 비교기의 동작으로 해석해볼때, 입력된 두 숫자가 다르다는 것을 나타낸다. 이로써 4비트 비교기의 동작을 확인해 볼 수 있었고, EX-OR 게이트가 다양한 용도로 쓰인다는 점을 알 수있었다.
실험4. Majority 회로의 동작을 확인하라.
4번실험은 3개의 입력을 받아서 0과 1중에 많이 입력된 값을 출력하는 회로이다. 만약 3개의 입력값이 0,0,1 이라면 0과 1중에 개수가 많은 0값을 출력하게되고, 입력값이 1,0,1 이라면 1을 출력하는 동작을 하게된다. 이 실험을 하기위해서 74LS08 칩과, 74LS32 칩을 각각 하나씩 사용했다. 회로의 구성은 위의 설계도와 동일하게 했으며, 입출력 동작을 확인하기 위해서 000부터 111까지 총 8개의 입력값을 인가했다.
실험결과
입력값
예상값
출력값
A
B
C
0
0
0
0 (0V)
1 (4.78V)
0
0
1
0 (0V)
1 (4.74V)
0
1
0
0 (0V)
1 (4.88V)
0
1
1
1 (5V)
1 (4.84V)
1
0
0
0 (0V)
1 (4.90V)
1
0
1
1 (5V)
1 (4.81V)
1
1
0
1 (5V)
1 (4.78V)
1
1
1
1 (5V)
1 (4.78V)
다양한 값을 입력했지만, 출력값은 약 5V로 동일했다. 예상결과와 출력값이 확연히 달라서, 회로 기판을 디버깅하고, 다시 실험했지만, 결과는 역시 동일했다. 뭔가 문제가 있음을 인지하고, 칩을 제거한 상태로 각 핀들 하나하나를 체크해보았다. 칩을 제거한 상태에서의 테스트는 아무런 이상이 없었다. 그러나 74LS32 칩을 장착한 상태에서 치명적인 문제점이 발견되었다. 74LS32 칩의 한부분인 11,12,13 번 핀에서 칩의 상태가 의심스러운 결과가 나타났다. 실험과는 직접적인 관련이 없는 핀이었는데, 12번 핀에서 약 2V의 전압이 검출되었고, 13번 핀에서 약 3V의 전압이 검출된 것이다. 0V 도 아니고, 5V 도 아닌 중간 값이 검출된 것으로 보아, 칩 자체의 문제가 발생한 것으로 볼 수 있다. 74LS08 칩의 한 부분인 11,12,13 번 핀도 살펴보았다. 이 3개의 핀은 회로의 동작에 직접적으로 관여하는 핀이라서, 오류가 나면 출력에 직접적인 영향을 주게된다. 테스트결과 74LS08 의 11,12,13 번 핀도 역시 중간값을 출력했고, 11번 칩의 출력이 74LS32의 4번핀에 입력으로 들어가고 그 4번핀은 74LS32의 5번핀과 함께 6번 출력으로, 즉 회로의 최종 출력으로 입력되게된다. OR게이트의 특성이라서 그런지, 중간값의 입력을 받아서 거의 5V로 출력했고, 그 결과, 모든 실험에서 5V의 출력이 된 것이다. 칩을 제거하고 테스트를 했을때에는 모두 0V 이라서 아무런 문제가 없었는데, 칩을 장착했을 경우에만 이런 문제가 발생하는 것으로 보아, 이번 실험은 칩의 불량으로 인해 정확한 결과를 얻을 수 없었던 실험이었다.
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  • 페이지수7페이지
  • 등록일2006.05.31
  • 저작시기2006.3
  • 파일형식한글(hwp)
  • 자료번호#352341
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