목차
1 Pre-Lab(예비실험): 기본 이론 조사
2 Pre-Lab(예비실험): Multisim 사용한 모의 실험(시뮬레이션)
3 Pre-Lab(예비실험): 실험 절차
4 Pre-Lab(예비실험): 검토 및 느낀점(5줄)
2 Pre-Lab(예비실험): Multisim 사용한 모의 실험(시뮬레이션)
3 Pre-Lab(예비실험): 실험 절차
4 Pre-Lab(예비실험): 검토 및 느낀점(5줄)
본문내용
전압 이득 증가가 목적
(2) NPN BJT 공통 이미터 증폭기가 2단으로 구성된 회로를 그려서 설명하고
전압이득, 전류이득, 전력이득을 구하시오.
-공통 이미터 증폭기 2단이 용량성결합으로 앞 단의 직류바이어스가 다음 단에 영향을 미치지 못하게 하는것이다. 동작주파수에서 용량성 리액턴스가 0이되어 교류는 감쇠없이 통과하게 된다.
(3) 첫 단이 NPN BJT 공통이미터 증폭기이고 다음 단이 NPN BJT 공통 컬렉터
증폭기로 구성된 2단 증폭기 회로를 그려서 설명하고 전압이득, 전류이득,
전력이득을 구하시오.
공통 이미터증폭기와 공통 컬렉터증폭기에서 공통 이미터 증폭기는 전압을 증폭시킨다. 그러나 공통 컬렉터는 전압이 아닌 임피던스를 감소시킨다.
Vout = A Vin , A = ,
2 Pre-Lab(예비실험): Multisim 사용한 모의 실험(시뮬레이션)
■ 모의실험회로 1 : 2단 증폭기 회로
이론 값
시뮬레이션 값
28uA
28.422uA
5.1 V
5.146V
4.65 mA
4.654mA
28 uA
28.422uA
5.1 V
5.146V
4.65 mA
4.654mA
■ 모의실험회로 1-2 : 2단 증폭기 회로
이론 값
시뮬레이션 값
28uA
28.422uA
5.1V
5.146V
4.65mA
4.654mA
30uA
30.198uA
6.7V
6.681V
5.1mA
5.111mA
■ 모의실험회로 2 : NPN BJT 2단 증폭기
■ 모의실험회로 2-2 : NPN BJT 2단 증폭기
회로
Vinpp
Voutpp
전압이득Av
전압이득Av
2단이 모두 공통이미터인 2단
398.49mV
3.589V
7.2
7.1997
첫단이 공통이미터, 둘째 단이 공통컬렉터인 2단
399.6mV
9.352V
23
23.403
- 시뮬레이션으로 계산한 전압이득과 손해석에 의한 공식을 이용해서 계산한 전압이득을 비교하고 차이점이 있다면 그 원인을 적으시오.
: 시뮬레이션과 계산값이 다른이유는 멀티심 특성으로 인한 불안전한 그래프 형태, 및 멀티심 내부 오차로 인하여 값이 정확하지않고 출력 또한 오차가 생겼다. 커패시터의 충방전으로 인하여 회로가 안정적이지 않았으며 함수발생기 Vin 또한 계속해서 변경되었다.
3 Pre-Lab(예비실험): 실험 절차
- DMM을 이용하여 실험에 필요한 소자를 모두 측정한다.
- 트랜지스터를 이용하여 회로를 구성한다.
- 회로에 부분적인 전압, 전류를 측정한다 (전류 측정간 주의 할 것)
- 완성된 회로를 조금씩 변경하여 원하는 회로로 설정한다.
4 Pre-Lab(예비실험): 검토 및 느낀점
: 실험 간 회로의 증폭효과에 대하여 실제적으로 보니 더 잘 알 수 있게되었다.
예전에 해왔던 증폭기와는 달리 2단으로 증폭할수록 원하는 값을 더 쉽게 얻을 수 있다는 것을 느꼈다. 지난 달링턴 회로에서 잡음이 너무 강하여 측정값이 원하는대로 출력이 잘 나오지않고 회로를 이리저리 만져보아도 나오지 않았다. 이번 다단 증폭기 에서도 소자가 많아 잡음이 많이생길까 걱정이 된다. 잡음을 줄이기 위해 좀 더 생각해보고 실험에 임해야겠다.
(2) NPN BJT 공통 이미터 증폭기가 2단으로 구성된 회로를 그려서 설명하고
전압이득, 전류이득, 전력이득을 구하시오.
-공통 이미터 증폭기 2단이 용량성결합으로 앞 단의 직류바이어스가 다음 단에 영향을 미치지 못하게 하는것이다. 동작주파수에서 용량성 리액턴스가 0이되어 교류는 감쇠없이 통과하게 된다.
(3) 첫 단이 NPN BJT 공통이미터 증폭기이고 다음 단이 NPN BJT 공통 컬렉터
증폭기로 구성된 2단 증폭기 회로를 그려서 설명하고 전압이득, 전류이득,
전력이득을 구하시오.
공통 이미터증폭기와 공통 컬렉터증폭기에서 공통 이미터 증폭기는 전압을 증폭시킨다. 그러나 공통 컬렉터는 전압이 아닌 임피던스를 감소시킨다.
Vout = A Vin , A = ,
2 Pre-Lab(예비실험): Multisim 사용한 모의 실험(시뮬레이션)
■ 모의실험회로 1 : 2단 증폭기 회로
이론 값
시뮬레이션 값
28uA
28.422uA
5.1 V
5.146V
4.65 mA
4.654mA
28 uA
28.422uA
5.1 V
5.146V
4.65 mA
4.654mA
■ 모의실험회로 1-2 : 2단 증폭기 회로
이론 값
시뮬레이션 값
28uA
28.422uA
5.1V
5.146V
4.65mA
4.654mA
30uA
30.198uA
6.7V
6.681V
5.1mA
5.111mA
■ 모의실험회로 2 : NPN BJT 2단 증폭기
■ 모의실험회로 2-2 : NPN BJT 2단 증폭기
회로
Vinpp
Voutpp
전압이득Av
전압이득Av
2단이 모두 공통이미터인 2단
398.49mV
3.589V
7.2
7.1997
첫단이 공통이미터, 둘째 단이 공통컬렉터인 2단
399.6mV
9.352V
23
23.403
- 시뮬레이션으로 계산한 전압이득과 손해석에 의한 공식을 이용해서 계산한 전압이득을 비교하고 차이점이 있다면 그 원인을 적으시오.
: 시뮬레이션과 계산값이 다른이유는 멀티심 특성으로 인한 불안전한 그래프 형태, 및 멀티심 내부 오차로 인하여 값이 정확하지않고 출력 또한 오차가 생겼다. 커패시터의 충방전으로 인하여 회로가 안정적이지 않았으며 함수발생기 Vin 또한 계속해서 변경되었다.
3 Pre-Lab(예비실험): 실험 절차
- DMM을 이용하여 실험에 필요한 소자를 모두 측정한다.
- 트랜지스터를 이용하여 회로를 구성한다.
- 회로에 부분적인 전압, 전류를 측정한다 (전류 측정간 주의 할 것)
- 완성된 회로를 조금씩 변경하여 원하는 회로로 설정한다.
4 Pre-Lab(예비실험): 검토 및 느낀점
: 실험 간 회로의 증폭효과에 대하여 실제적으로 보니 더 잘 알 수 있게되었다.
예전에 해왔던 증폭기와는 달리 2단으로 증폭할수록 원하는 값을 더 쉽게 얻을 수 있다는 것을 느꼈다. 지난 달링턴 회로에서 잡음이 너무 강하여 측정값이 원하는대로 출력이 잘 나오지않고 회로를 이리저리 만져보아도 나오지 않았다. 이번 다단 증폭기 에서도 소자가 많아 잡음이 많이생길까 걱정이 된다. 잡음을 줄이기 위해 좀 더 생각해보고 실험에 임해야겠다.
추천자료
- 전자회로 실험 실습기
- 전자오르간[전자회로 실험 텀프로젝트]
- [전자회로실험] 정류기와 능동필터
- [전자회로실험] 이미터팔로워 실험
- [전자회로실험] 차동증폭기
- [전자회로실험] 전압레귤레이션
- Ch8. 멀티플랙서와 디멀티플랙서<디지털회로실험//경희대학교>
- 전자회로 실험(김동식 저) - 1장 다이오드 특성 및 반파 정류회로 실험
- 전자회로 실험 리포트
- 전자회로 실험 JFET특성
- [전자회로실험] 이미터 접지 바이어스와 증폭도 발표자료입니다.
- [전자공학실험] 예비보고서 02장 - 신호와 잡음, 그리고 접지 : 전기신호를 다루는 회로실험...
- [전자회로 실험] 반파정류기와 전파정류기의 출력파형을 관찰하고 측정
- 전자회로 설계 및 실험 - 다이오드 특성
소개글