고온용 반도체 압력센서의 제조와 특성
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목차

1. 서론

2. 고온용 압력센서의 설계

3. 고온용 압력센서의 제조

4. 고온용 압력센서의 특성

5. 결론

본문내용

그림8는 온도에 따른 압력감도의 변화를 나타낸 것이다. 제작된 센서의 상온에서의 압력감도는 0에서 300torr를 기준으로 하였을 때 75 V/V·Torr이었으며 압력감도의 온도계수는 -1,734ppm/oC이었다.
5. 결론
자동차의 엔진제어나 산업용 기계 등 일반적인 반도체 압력센서의 사용이 어려운 고온환경에서 적용가능한 고온용 반도체 압력센서를 SIMOX SOI 웨이퍼를 이용하여 제조하였다. 제조된 압력센서는 다이아프램의 두께가 10 m이었으며 상온에서의 압력감도가 0torr에서 300torr를 기준으로 하였을 때 75 V/V·Torr로서 1torr의 압력차이를 감지할 수 있었다. 또한 압력감도의 온도계수는 -1,734ppm/oC 이었으며 300oC까지의 측정범위에서 우수한 특성을 보임을 확인하였다.
6. 참고문헌
1. C. S. Smith, "Piezoresistance effect in germanium and silicon", Phys. Rev., Vol. 94, 42-49, 1954.
2. Y. Kanda, "Piezoresistance effect of silicon", Sensors and Actuators A, Vol. 28, 83-91, 1991.
3. S. K. Clark, K. D. Wise, "Pressure Sensitivity in Anisotropically Etched Thin-Diaphragm Pressure Sensors", IEEE Trans. Electron Devices, Vol. ED-26, P.1887, 1979.
4. I. Obieta, et.al., "High-temperature polysilicon pressure microsensor", Sensors and Actuators A, Vol. 46-47, 161-165, 1995.
5. G. S. Chung, et.al., "High-performance pressure sensors using double silicon-on-insulator structures", Rev. Sci. Instrum., Vol. 62(5), P.1341, 1991.
6. 배영호 외, "고온용 반도체센서를 위한 압저항의 제조와 특성", RIST 연구논문, 9(2), 1995.
Fig. 1 Chip layout of the piezoresistive pressure
sensor for high temperature applications.
Fig. 2 Structure of the piezoresistive pressure
sensor for high temperature applications.
Fig. 3 Front-side circuit part of the piezoresistive
pressure sensor.
Fig. 4 Cross section of the anisotropically etched
diaphragm.
Fig. 5 Top view photomicrograph of the packaged
pressure sensor.
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  • 페이지수7페이지
  • 등록일2002.03.07
  • 저작시기2002.03
  • 파일형식한글(hwp)
  • 자료번호#191699
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