Ewing의 장치에 의한 Young률 측정 (micrometer장치)
본 자료는 미만의 자료로 미리보기를 제공하지 않습니다.
닫기
  • 1
  • 2
해당 자료는 0페이지 까지만 미리보기를 제공합니다.
0페이지 이후부터 다운로드 후 확인할 수 있습니다.

소개글

Ewing의 장치에 의한 Young률 측정 (micrometer장치)에 대한 보고서 자료입니다.

목차

1.실험제목

2.실험일시

3.실험목적

4.실험기구

5.이론

6.실험방법

본문내용

을 망원경으로 관측한다. 그러기 위해서 우선 망원경의 촛점을 자와 거울과의 거리 L의 2배 되는 곳에 맞추어 놓고 자를 밝게 비추어 거울과 망원경의 각도를 잘 조절하여 자가 망원경을 통해 시야에 들어오게 한다■이 부분이 될거 같다. 얇은판의 두께 측정 때처럼 자가 망원경의 시야에 들어오게 해야 되는데 한번의 경험이 있으므로 그리 어렵게 보이지 않다.

키워드

  • 가격500
  • 페이지수2페이지
  • 등록일2004.04.13
  • 저작시기2004.04
  • 파일형식한글(hwp)
  • 자료번호#246537
본 자료는 최근 2주간 다운받은 회원이 없습니다.
다운로드 장바구니