AFM 구동 원리및 측정방법

목차

1. What is the AFM??

2. AFM 구조 및 원리
-contact mode
-noncontact mode
-tapping mode

3. 사진 분석요령

본문내용

What is the AFM
IBM의 쥬리히 연구소의 Gerd Binnig이 1985년에 AFM을 개발.
최초의 AFM은 금으로 된 호일을 싼 다이아몬드제질의 탐침의 배면에 STM의 탐침을 위치시키고, 그 터널 전류에 의해 탐침의 변위를 측정할 수 있는 매우 고가의 복잡한 제품이었습니다. 그 후 탐침으로서 Si 등이 이용될 수 있도록 되어 광레버 방식에서 변위를 검출할 수 있게 되었고 AFM 시스템은 가격이 저렴하게 되었습니다.
또한 원래는 원자력간을 이용하여 표면상을 얻을 수 있을 뿐이었지만, 현재는 자성과 도전성을 가진 탐침을 이용함으로 표면형상과 동시에 자기상을 관찰 할 수 있는 MFM(자기력현미경과 전기력을 관찰 할 수 있는 EFM(전기력 현미경) 등과 같은 장치도 있습니다. 최근에는 AFM과 형광현미경, 공집점 레이저 현미경(Confocal Laser Scanning Microscope), 전반사(Total Internal Reflection : TIRF)형광현미경, Raman 분광법 등을 조합하여 다양한 AFM을 사용하고 있습니다.

키워드

AFM,   Contact mode,   Van der Waals force,   후쿠의 법칙,   noncontact mode,   tapping mode