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. 그리고 RL을 바꾸어 가면서 총 세 번의 실험을 했다. 이번엔 RL을 단락시키고 그 branch에 흐르는 전류(IN)를 측정하였다. 또 전압원까지 단락시킨 후 등가 저항을 측정했다. 마지막으로 노턴 등가회로 칸에는 측정치를 이용하여 IL을 계산한 값을 적었고 계산치 칸에는 계산치들을 이용하여 IL을 계산한 값을 적었다.
IN 은 1.16mA의 오차를 보였다. RN은 0.43옴의 오차를 보였다. RL은 원 회로에서 측정한 값과 계산치를 비교해봤을 때 차례대로 0.65mA, 0.45mA, 0.97mA의 오차를 보였다. 오차는 대체로 작았다. 작은 오차였지만 그래도 오차가 생긴 원인을 따져보면 다음과 같다. 첫 번째는 저항소자로 인해 발생한 오차이다. 이는 저항소자의 오차범위 내에서 발생한 것으로 생각한다. 다행히 오차의 크기가 크지 않아서 실험에 큰 영향을 주지는 않았다. 그리고 두 번째로는 기기들과 회로의 정확하지 못했던 접촉 때문에 발생한 오차이다. 예를 들면 실험을 하면서 멀티미터로 전류를 측정할 때 같은 회로임에도 불구하고 측정할 때마다 값이 계속 바뀌었고, 멀티미터 상의 숫자가 고정되지 않고 오르락 내리락 하는 모습을 볼 수 있었다. 마지막으로 기기들의 내부저항이다. DC 전원공급기의 내부저항과 멀티미터의 내부저항 그리고 전선 자체의 내부저항이다. 아주 작은 수치겠지만 이것들도 결과에 영향을 줄 수 있다.
실험을 통해 노턴의 정리를 이용하여 복잡한 회로망에서 어느 한 부분에 대해서만 전류에 관심이 있는 경우 다른 부분의 회로의 복잡성을 감소시켜 등가회로를 적용할 수 있다는 것을 알 수 있었다.
IN 은 1.16mA의 오차를 보였다. RN은 0.43옴의 오차를 보였다. RL은 원 회로에서 측정한 값과 계산치를 비교해봤을 때 차례대로 0.65mA, 0.45mA, 0.97mA의 오차를 보였다. 오차는 대체로 작았다. 작은 오차였지만 그래도 오차가 생긴 원인을 따져보면 다음과 같다. 첫 번째는 저항소자로 인해 발생한 오차이다. 이는 저항소자의 오차범위 내에서 발생한 것으로 생각한다. 다행히 오차의 크기가 크지 않아서 실험에 큰 영향을 주지는 않았다. 그리고 두 번째로는 기기들과 회로의 정확하지 못했던 접촉 때문에 발생한 오차이다. 예를 들면 실험을 하면서 멀티미터로 전류를 측정할 때 같은 회로임에도 불구하고 측정할 때마다 값이 계속 바뀌었고, 멀티미터 상의 숫자가 고정되지 않고 오르락 내리락 하는 모습을 볼 수 있었다. 마지막으로 기기들의 내부저항이다. DC 전원공급기의 내부저항과 멀티미터의 내부저항 그리고 전선 자체의 내부저항이다. 아주 작은 수치겠지만 이것들도 결과에 영향을 줄 수 있다.
실험을 통해 노턴의 정리를 이용하여 복잡한 회로망에서 어느 한 부분에 대해서만 전류에 관심이 있는 경우 다른 부분의 회로의 복잡성을 감소시켜 등가회로를 적용할 수 있다는 것을 알 수 있었다.
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