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Damascene)
Chemical Mechanical Polishing
Micro-Scope Phenomena in CMP
Oxide Slurry
Slurry in CMP
S-Project CMP Slurry/Chemical
L13/L9 Process 대응 (案, vs. Ivy)
CMP PAD
Conditioner in CMP
CMP Consumables
CMP Process Control
CMP Performance
CMP Equip. Type
Process Step of STI CMP
High S
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damascene공정을 통한 구리 배성 형성 방법에 대하여 자세히 기술되었다. 1. Why Cu interconnect?
2. Benifits of Cu interconnect
3. Cu/Low k interconnect challenges
4. Metallization process comparison
5. Dual Damascene Approaches
6. Major challenges of Cu interconnect
7. Cu D
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BL은 cell string에 전압을 인가하는 path 역할을 하며, core 및 peri의 interconnection 역할을 한다
MC1은 active, gate, f-poly상에 형성되는 W-plug 구조의 contact이다
BL과 MC1의 W depo와 CMP를 merge하는 dual-damascene 공정을 채택하고 있다
MC2는 Metal과 BL의 연
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Damascene Process
Al Material is Vulnerable to Mechanical and Chemical Attacks
Severe Scratch, Corrosion, Pitting Defects After CMP Process
Restriction in Using Strong Cleaning Chemicals for Defect Reduction
Requirements for Future Technology
CMP Simulator 개발
Dishing Mechanism 연구
Slu
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