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Properties of Sapphire Resonators with a Gap and Their Applicability for Measurements of the Intrinsic Surface Impedance of Thin Superconductor Films, to be published in IEICE
[21] Yoshio Kobayashi and Toru Hashimoto, Design of an image-type dielectric resonator to measure surface resistance of a h
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Vacuum (or Air) : k=1 , SiO2 : k=4, Diamond : k=5.5-6.6
▶ 전기적 분극(Electric Polarization) – 가해진 외부 전기장에 의해 재료 내에서 Electric dipole을 유도하려는 경향 I. Low k Material
II. How to Use Low k Material
III. Properties of Low k Material
IV. Problem Solution
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dielectric (유전성), mechanical(기계적 물성), optical properties(광학적 물성)등이 변화함을 이용.
Piezoelectric effect (압전성) :
인가된 전장 ↔ crystal dimension
↓
전기적 에너지 ↔ 기계적 에너지
ex) PZT (PbTiO3-PbZrO3 고용체) ; speaker, microphone, sonar transducer, ul
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properties of various specimen
Fig. 1 Block diagram of instrument for measuring
dielectric permittivity at various temperature
Fig. 2 Measurement system of output voltage
Fig. 3 Variation of lattice constant of xPYS-yPT-zPZ ceramics
for copmosition x=0.05
Fig. 4 SEM photographs of PYS-PZT ceramic
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코팅 시스템
2.1 코팅 종류
2.2 코팅 기술
3. 방식 코팅 소재의 특성
3.1 내수성(water resistance)
3.2절연성(Dielectric strength)
3.3 이온 이동에 대한 저항성(Resistance to Ionic passage)
3.4 내화학성(Chemical resistance)
4. 코팅 수지
5. 맺는말
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Properties 클릭
linear step 선택 후 값들을 입력 업데이트 기존의 Sweep 목록 삭제 OK 클릭
Sweep1 Analyze
Resulte 마우스 우클릭 Create Report 클릭
S parameter로 설정
Add Trace 클릭
Done 클릭
결과 값 그래프 : 3.3 GHz에서 -20,45dB이 나왔다.
최적화 작업을
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