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Metals and Alloys. 2nd ed. London : Chapman and Hall, 1992.
- Materials science for engineering(James F.Shackelford)
재료실험 1 보고서
EBSD를 이용한 분석 실험 1. Introduction
2. 문헌조사
(1) EBSD(Electron back-scattered diffraction)
(2) Misorientation 과 Coincidence Site Lattice (CSL)
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low frequency 성분이 plot의 한가운데 위치한다.)
3. <신호 + 잡음 분석>
3-1. 위 random process (X)에 additive white guassian noise (AWGN) N을 더하여 새로운 random process Y (= X+N) 를 만들어 보아라. 이 때 noise power는 signal power P의 10%로 한다. Y를 plot해 보고 Y를 소
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frequency domain에서 spike가 나타났고, 주기에 따라서 그 위치가 바뀌는 것을 확인할 수 있었다. EH한 input을 합성된 형태로 넣어주자 두 개의spike가 나타났다.
random input의 경우는 noise가 형성됨을 확인할 수 있었다. Filtering 을 “Low pass Filtering” 과
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변조 기술은 보통 DPSK이다. 이 변조 기술은 1200, 2400 및 4800bps의 동기모뎀에 주로 사용된다. FSK 변∙복조기
3. 실험목적
4. 실험관련이론
(1) FSK(Frequency Shift Keying)
5. 실험기자재 및 부품
6. 실험과정 및 방법
(7) 결과 보고서
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metal 사이에는 ohmic contact(non-rectifying contact)
MOS-C의 변수들은 x에 의해서 변하는 1차원적인 구조
3. Energy Band Diagram
4. Effect of an Applied Bias(P-MOS cap.)
5. Charge Distribution (dc bias + ac bias )
Accumulation
Depletion
Inversion (low frequency)
Inversion (high frequency
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