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AFM(Molecular Recognition AFM)
특정한 리간드가 붙은 침사용
나.특 징
원자힘 현미경의 수직방향 분해능은 수평방향보다 좋아서 원자지름의 수십분의일(0.1nm)까지도 측정해낼수있다.
다.용 도
반도체의 표면계측,defect 분석, 콤팩트디스크,자기디스크
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SEM과 TEM의 경우에는 contrast를 올려야하는 사전 처리가 필요하지만 AFM은 사전처리가 필요 없어서 sample을 보호하며 직접 측정할 수 있다는 장점이 있다.
4. 결론
광학 현미경은 미시 구조를 분석하는 데에 한계가 있지만 간단하며, 전자 현미경
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2. 나노 입자의 분석
2.1 SEM & TEM
2.2 AFM (Atomic Force Microscopy)
2.3 STM/STS (Scanning tunneling microscopy)
2.4 NSOM (Near-Field Scanning Optical Microscopy)
2.5 Piezoelectric Microbalance
2.6 Differential Mobility Analyzer
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AFM/SPM, DIP PEN NANOLITHOGRAPHY, CANTILEVER ARRAYS SENSING
③주소 : 서울시 송파구 문정동 289 가든파이브 웍스 C동 505호
④주요 제품 사진
N8 RADOS
N8 ARGOS
N8 NEOS
7. 대덕이미지
①홈페이지 주소 : www.daedukimage.co.kr
②주요 제품 및 적용 분야 : Leica, Mini-SEM, X-Ray, X
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이르기까지 종래 보다 더 작은 단위로 측정하려는 모든 곳에 활용되고 있다. 산업용으로는 반도체의 표면 계측, defect 분석, 콤팩트 디스크, 자기 디스크나 광 자기 디스크 등에 쓰인 비트(bit)의 모양새 조사 등에 쓰이고 있으며 최근 큰 성장을
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