|
Scanning Probe Microscope ์ด๋?
1-1. SPM์ ์ค์บ๋
1-2. ์ค์บ๋ ๊ตฌ์กฐ์ ์๋
1-3. ์ค์บ๋์ ๋ณธ์ง์ ์ธ ๋ฌธ์ ์ ๋ค.
1-3-1. Intrinsic ๋น์ ํ์ฑ
1-3-2. Hysteresis
1-3-3. Creep
1-3-4. Aging
1-3-5. Cross Coupling
1-4. ์ค์บ๋ ๋ฌธ์ ์ ๋ค์ ํด๊ฒฐ๋ฐฉ๋ฒ
1-4-1. Software
|
- ํ์ด์ง 60ํ์ด์ง
- ๊ฐ๊ฒฉ 3,000์
- ๋ฑ๋ก์ผ 2010.04.10
- ํ์ผ์ข
๋ฅ ํ๊ธ(hwp)
- ์ฐธ๊ณ ๋ฌธํ ์์
- ์ต๊ทผ 2์ฃผ ํ๋งค ์ด๋ ฅ ์์
|
|
์ผ ํ๋ค๋ ์ ์ด๋ค.
โ
ค ๋ค๋ฅธ ๊ธฐ๊ธฐ์์ ๋น๊ต๋ถ์
ํ์นจํ ์์ ํ๋ฏธ๊ฒฝ(scanning probe microscope ;SPM)์ด๋ ๋ค์ํ ๋ฐฉ์์ ํ์นจ(probe)์ผ๋ก ์๋ฃ์ ํ๋ฉด์ ์ค์บํ์ฌ ์์ ์ง๋ฆ์ ์์ญ ๋ถ์ 1์ธ 0.01๋๋
ธ๋ฏธํฐ(nm) ์์ค๊น์ง ์ธก์ ํ ์ ์๋ ์ 3์ธ๋ ํ๋ฏธ๊ฒฝ์ด๋ค.
|
- ํ์ด์ง 6ํ์ด์ง
- ๊ฐ๊ฒฉ 4,200์
- ๋ฑ๋ก์ผ 2013.10.26
- ํ์ผ์ข
๋ฅ ํ๊ธ(hwp)
- ์ฐธ๊ณ ๋ฌธํ ์์
- ์ต๊ทผ 2์ฃผ ํ๋งค ์ด๋ ฅ ์์
|
|
์ผ ํ๋ค๋ ์ ์ด๋ค.
โ
ค ๋ค๋ฅธ ๊ธฐ๊ธฐ์์ ๋น๊ต๋ถ์
ํ์นจํ ์์ ํ๋ฏธ๊ฒฝ(scanning probe microscope ;SPM)์ด๋ ๋ค์ํ ๋ฐฉ์์ ํ์นจ(probe)์ผ๋ก ์๋ฃ์ ํ๋ฉด์ ์ค์บํ์ฌ ์์ ์ง๋ฆ์ ์์ญ ๋ถ์ 1์ธ 0.01๋๋
ธ๋ฏธํฐ(nm) ์์ค๊น์ง ์ธก์ ํ ์ ์๋ ์ 3์ธ๋ ํ๋ฏธ๊ฒฝ์ด๋ค.
|
- ํ์ด์ง 6ํ์ด์ง
- ๊ฐ๊ฒฉ 1,800์
- ๋ฑ๋ก์ผ 2013.11.25
- ํ์ผ์ข
๋ฅ ํ๊ธ(hwp)
- ์ฐธ๊ณ ๋ฌธํ ์์
- ์ต๊ทผ 2์ฃผ ํ๋งค ์ด๋ ฅ ์์
|
|
์ ์๋ฅผ ๋ฐ์์์ผ์, ์ผ์๋ก ๋ฐ์๋ค์ฌ ๊ด์ฐฐํ ์ ์๋๋ก ํ๋ค.
SPM(Scanning Probe Microscope)์ 1982๋
์ IBM. Zurich ์ฐ๊ตฌ์์ G.Binning, H.Roher์ ์ํด ๋ฐ๋ช
(1986๋
์ ๋
ธ๋ฒจ๋ฌผ๋ฆฌํ์์์) ๋๋ STM(Scanning Tunneling Microscope)์ ์๋ฆฌ๋ก๋ถํฐ ํ์๋์๋ค. ๋ฏธ์ธํ ํ
|
- ํ์ด์ง 12ํ์ด์ง
- ๊ฐ๊ฒฉ 1,000์
- ๋ฑ๋ก์ผ 2005.07.06
- ํ์ผ์ข
๋ฅ ํ๊ธ(hwp)
- ์ฐธ๊ณ ๋ฌธํ ์์
- ์ต๊ทผ 2์ฃผ ํ๋งค ์ด๋ ฅ ์์
|
|
Electron microscope(EM)
• SEM (scanning electron microscope)
• FESEM (field emission scanning electron microscope)
• TEM (transmission electron microscope)
• HRTEM (high resolution transmission electron microscope)
Scanning probe microscope(SPM)
• STM(scanning tun
|
- ํ์ด์ง 12ํ์ด์ง
- ๊ฐ๊ฒฉ 2,500์
- ๋ฑ๋ก์ผ 2010.07.08
- ํ์ผ์ข
๋ฅ ํผํผํฐ(ppt)
- ์ฐธ๊ณ ๋ฌธํ ์์
- ์ต๊ทผ 2์ฃผ ํ๋งค ์ด๋ ฅ ์์
|