오실로스코프를 이용한 리사주 도형의 위상측정 실험

목차

1. 실험제목

2. 조, 과, 학번, 이름

3. 실험목적

4. 실험원리

5. 실험기기

6. 실험방법

본문내용

관성이 크기 때문에 응답도가 낮아서 변화가 심한 높은 주파수의 측정을 할 수 없다. 그러므로 변화가 빠른 측정량을 측정, 기록하고 싶을 때에는 오실로스코프를 사용하며, 파형을 나타내고, 사진을 찍어둔다. 최근에는 X-Y 기록계로도 펄스 기술을 이용한 샘플링 변환기를 사용하면 고주파까지도 측정이 가능하게 되었다.
(4) 스펙트럼 분석기
스펙트럼 측정은 피측정 신호에 포함되는 각 주파수 성분이 주파수 축상의 대응된 위치에 진폭의 크기로서 표시되는 것이 일반적이므로 피측정 신호 속에 포함되는 전 주파수 성분을 분석하여 표시하는 것이 가능하다.
이와 같은 측정에 사용되고 있는 측정기로서는 스펙트럼 분석기와 FET분석기가 있으며, FET분석기는 주로 100[㎒]이하의 주파수 분석에 사용된다. 다른 측정기와의 비교로서 주파수 측정기는 피측정 신호 속의 가장 주요한 신호 성분의 주파수만을 측정하는데 비하여, 주파수 분석기는 신호 속의 각 주파수 성분과 그 크기(진폭)라는 두 신호량이 동시에 측정되어 표시되므로 측정량의 물리적 및 정량적인 해석을 명확히 할 필요가 있다. 또, 오실로스코프에서는 입력 신호의 진폭 대 시간 특성을 관측할 수 있는데 반하여, 스펙트럼 분석기는 입력 신호를 각 주파수 성분으로 분해하고, 화면상에 진폭과 주파수 등의 함수로서 표시할 수 있다.
스펙트럼 분석기는 연속파(CW)신호의 스펙트럼 순도, 진폭 변조(AM)신호의 변조도, 주파수 변조(FM)신호의 편차, 임펄스와 랜덤 잡음과 같은 잡음, 그리고 필터의 주파수 응답 등과 같은 여러 종류의 신호로부터 넓고 다양한 정보를 얻는데 사용된다.

키워드

오실로스코프,   리사주,   위상,   위상차,   오실로,   브라운관,   과도현상,   물리 실험