목차
Chap. 4 고체내의 결함
4.1 서론
4.2 공공과 자기침입형
4.3 고체내의 불순물
4.4 전위 - 선결함
4.5 계면결함(interfacial defect)
4.6 부피 또는 체적결함
4.7 원자진동
4.8-4.9 현미경 관찰(p.89, 90의 그림)
4.10 결정립 크기(grain size)의 결정
4.1 서론
4.2 공공과 자기침입형
4.3 고체내의 불순물
4.4 전위 - 선결함
4.5 계면결함(interfacial defect)
4.6 부피 또는 체적결함
4.7 원자진동
4.8-4.9 현미경 관찰(p.89, 90의 그림)
4.10 결정립 크기(grain size)의 결정
본문내용
anning electron microscope; SEM): 5∼10만배
4.5 계면결함(interfacial defect): 다른 결정구조, 다른 결정방향을 가진 영역을 분리하는 경계면.
외부표면, 결정립계, 쌍정립계, 적층결함, 상계면 p.84, 85
▶ 쌍정립계(twin boundry)
기계적 쌍정: 전단응력에 의해 발생되는 원자의 이동(주로 BCC, HCP)
어닐링 쌍정: 풀림처리에 의해 발생되는 원자의 이동(주로 FCC)
4.6 부피 또는 체적결함
제조나 가공과정중에 형성 ⇒ 기공, 균열, 외부함유물, 석출물
4.7 원자진동
고체내의 현상 : 원자의 진동에 기인
4.8-4.9 현미경 관찰(p.89, 90의 그림)
▶ 거시적(macroscopic) 관찰과 미시적(microscopic) 관찰
(마운팅)→연마(polishing)→부식(etching)→현미경 관찰, 조직사진 촬영
4.10 결정립 크기(grain size)의 결정
N`=`2 sup n-1
(
n={log N} over {log 2}` + 1
, 1∼10의 값)
N
: 100배의 배율에서 관찰되는 1 in2당 결정립의 수
n
: ASTM 결정립 크기 번호(클수록 결정립은 작다)
4.5 계면결함(interfacial defect): 다른 결정구조, 다른 결정방향을 가진 영역을 분리하는 경계면.
외부표면, 결정립계, 쌍정립계, 적층결함, 상계면 p.84, 85
▶ 쌍정립계(twin boundry)
기계적 쌍정: 전단응력에 의해 발생되는 원자의 이동(주로 BCC, HCP)
어닐링 쌍정: 풀림처리에 의해 발생되는 원자의 이동(주로 FCC)
4.6 부피 또는 체적결함
제조나 가공과정중에 형성 ⇒ 기공, 균열, 외부함유물, 석출물
4.7 원자진동
고체내의 현상 : 원자의 진동에 기인
4.8-4.9 현미경 관찰(p.89, 90의 그림)
▶ 거시적(macroscopic) 관찰과 미시적(microscopic) 관찰
(마운팅)→연마(polishing)→부식(etching)→현미경 관찰, 조직사진 촬영
4.10 결정립 크기(grain size)의 결정
N`=`2 sup n-1
(
n={log N} over {log 2}` + 1
, 1∼10의 값)
N
: 100배의 배율에서 관찰되는 1 in2당 결정립의 수
n
: ASTM 결정립 크기 번호(클수록 결정립은 작다)