목차
디지털공학실험 플립플랩 예비보고서
1.실험제목
2.목적
3.이론
(1) 기본 RS 플립플롭
(2) RS 플립플롭
(3) PR/CLR RS 플립플롭
(4) D 플립플롭
(5) T 플립플롭
(6) 주종 플립플롭
(7)JK플립플롭
4. 실험 순서
1.실험제목
2.목적
3.이론
(1) 기본 RS 플립플롭
(2) RS 플립플롭
(3) PR/CLR RS 플립플롭
(4) D 플립플롭
(5) T 플립플롭
(6) 주종 플립플롭
(7)JK플립플롭
4. 실험 순서
본문내용
서 Q와 의 논리상태를 측정하여 표 5(b)에 기록한다.
(8) 7474 D flip-flop과 7404 NOT 게이트를 이용하여 회로도 (g)를 구성하고 절차 (7)을 반복하여 표 5(b)에 기록한다.
(9) 7404 NAND 게이트를 이용하여 회로도 (h)를 구성하고 T를 표 6과 같이 변화시키면서 Q와 의 논리상태를 측정하여 표 6에 기록한다.
(10) 7400 NAND 게이트 두 개와 7404 NOT 게이트, 7410 NAND 게이트를 이용하여 회로도 (i)를 구성하고 J, K를 표 7과 같이 변화시키면서 CLK 신호를 가해 Q와 의 논리상태를 측정하여 표 7(a)에 기록한다.
(11) 회로도 (i)대신 7476 JK flip-flop을 사용하여 절차 (10)을 반복하고 표 7(b)에 기록한다.
(8) 7474 D flip-flop과 7404 NOT 게이트를 이용하여 회로도 (g)를 구성하고 절차 (7)을 반복하여 표 5(b)에 기록한다.
(9) 7404 NAND 게이트를 이용하여 회로도 (h)를 구성하고 T를 표 6과 같이 변화시키면서 Q와 의 논리상태를 측정하여 표 6에 기록한다.
(10) 7400 NAND 게이트 두 개와 7404 NOT 게이트, 7410 NAND 게이트를 이용하여 회로도 (i)를 구성하고 J, K를 표 7과 같이 변화시키면서 CLK 신호를 가해 Q와 의 논리상태를 측정하여 표 7(a)에 기록한다.
(11) 회로도 (i)대신 7476 JK flip-flop을 사용하여 절차 (10)을 반복하고 표 7(b)에 기록한다.