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목차
1. X-선기본원리
2. X-선 회절분석기의 구조
3. X-선 회절분석기의 구성요소- X선원, 시료, 검출기
2. X-선 회절분석기의 구조
3. X-선 회절분석기의 구성요소- X선원, 시료, 검출기
본문내용
X – 선의 기본원리
X-선은 빛처럼 파장이기 때문에 물질의 표면에
부딪히면 산란이 일어나 회절을 일으킨다. 이 때
회절은 모든 방향으로 일어나지만 회절무늬가 간섭을
일으켜 일정한 패턴이 생긴다.
만약물질의 원자가 주기적으로 배열돼 결정성을
가지면 X선 회절무늬의 패턴도 규칙성을 띠게된다.
이를 통해 물질의 조성과 결정 구조를 판단한다.
X-선은 빛처럼 파장이기 때문에 물질의 표면에
부딪히면 산란이 일어나 회절을 일으킨다. 이 때
회절은 모든 방향으로 일어나지만 회절무늬가 간섭을
일으켜 일정한 패턴이 생긴다.
만약물질의 원자가 주기적으로 배열돼 결정성을
가지면 X선 회절무늬의 패턴도 규칙성을 띠게된다.
이를 통해 물질의 조성과 결정 구조를 판단한다.
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- 페이지수21페이지
- 등록일2009.09.30
- 저작시기2008.4
- 파일형식파워포인트(ppt)
- 자료번호#554702
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