XRD (X-Ray Diffractometer)

목차

1. X-Ray Diffractometer, XRD란?

2. XRD의 원리

3. XRD 에 의한 X선 회절 분석법

4. XRD의 특징 및 알수 있는 정보

본문내용

도중에 전자를 쉽게 이온화 시키지 못하므로, Pulse 전류는 아주 미약하다.
열잡음과 구별하기 위하여 반도체와 Pre-Amplifier는 액체질소로 냉각한다.
이 검출기는 Energy 분해능이 좋다.
⑦형광판
형광판, X선(X-Rays) 검파기는 ZnS, CdS등의 형광도료(광전흡수에 의한 발광)를 판위에 칠한 것으로, X선(X-Rays)의 존재를 확인하는 정도에 이용한다.
⑧Scintillation 계수관
NaI, ZnS, CdS, 만트라센 등의 결정은 X선(X-Rays)이 입사되면 발광한다.
이 미약한 빛을 관전자증배관(Photomultiplier, Phototube)으로 전기 Pulse로 변환하여 증폭한다. Scintillation 계수관(Scintillation Counter, SC)도 Energy를 선별하는것이 가능하며 Energy분해능은 비례계수관에 비해 나쁘다. SC와 PC 모두 X선 회절에 잘 이용하고 있다.
⑨X선 Television
형광판으로 X선(X-Rays)을 가시광선으로 변환하여, 이것을 고감도 촬영관을 사용하여 Television에 투영하는 방식과, 직접 X선(X-Rays)에 감응하는 촬영관을 사용하는 방식 2종류가 있다.
⑩Image Plate
IP는 형광체( BaFBr : Er2+ )의 아주작은 결정을 Film위에 칠한 것으로, 종래의 Film의 10 ~ 60 배의 감도와 105 ~ 10 6 정도의 넓은 Dynamic range를 갖고있다.
4. XRD의 특징 및 알수 있는 정보
1. 시료에 대한 제한이 적고 고든 고체 시료에 대해서 비파괴 측정 가능
2. 분말시료든지 판상, 액체, 리본, thin film 시편에 대해서도 측정 가능
3. 물질의 결정구조와 화합 형태가 다르면 회절 패턴의 형태가 변화
4. 표준 물질의 데이터 파일과 대조해서(JCPDS card 이용) 물질을 구별할 수 있다.
5. 결정의 면 간격을 정확히 측정하는 일이 가능
6. 결정성 조사 가능
7. 결정의 배향성을 조사 가능
8. 결정 내부의 변형을 조사 가능
9. 혼합물의 회절 패턴은 시료를 구성하고 있는 각 화합물의 회절 패턴을 중첩시킨
것으로 나타냄
10. 격자 상수를 정밀하게 측정해서 고용에 의한 격자의 팽창과 수축 정도를 알아낼 수 있다.
11. 회절선의 강도를 측정해서 각 성분의 정량 분석을 할 수 있다.
12. 개략적인 구조를 알고 있을 경우 회절 패턴을 정밀하게 측정해서 결정구조 해석 가능

키워드

X-Ray,   XRD,   X-Ray Diffractometer,   X-ray,   XRD 원리,   X선 회절 분석법