본문내용
이 일정한 비율로 변하는 관계
간극 고용체 : 어떤 결정구조를 이루는 이온이나 원자들 사이에 간극이 존재하는데, 이 틈새에 작은 이온이나 원자가 들어감으로서 결정의 화학조성이 변하는 것
결손 고용체 : 결정구조 내부에 빈자리가 생겨 화학조성이 달라지는 고용체
치환 고용체 : 성분사이에 치환이 일어나는 범위에 따라 완전고용체와 불완전
고용체로 나눔
완전고용체
ex) 감람석 : (Fe, Mg)2SiO4 → Fe와 Mg가 0 ~ 100% 범위에서 무제한으로 치환되는
완전 고용체
제한고용체
ex) 섬아연석 : (Zn, Fe)2S → 일정한 범우에서 치환이 일어나는 제한 고용체
◈ 원자의 치환이 일어날 수 있는 범위 : 구조와 성질, 대응하는 이온반지름의 유사성과 전하 및 광물의 생성온도에 따라 결정된다.
구조와 성질 : 원자 치환의 정도에 상당한 영향
이온의 크기
2개 이온의 크기차이가 15% 이하 → 넓은 범위에 걸쳐 치환
2개 이온의 크기차이가 15 ~ 30% → 제한적 치환
2개 이온의 크기차이가 30% 이상 → 치환이 매우 어려움
◈ 이온의 치환은 전하의 차이가 1보다 클 때 이온의 크기가 적당해도 거의 일어나지 않는다. 그 이유는 동반되는 치환에 의해 전기적으로 중화되기 어렵기 때문이다.
◈ 원자의 치환범위 → 온도상승에 따라 확대됨
◈ 용리 : 고온에서 균질한 고용체를 이루던 물질이 두 개 이상의 서로 다른 결정질 물질로 분리되는 현상.
◈ EPMA(Electron Probe X-ray Micro Analysis)
전자현미 분석기 : 고체 시료의 화학조성을 분석하는 장치
분석분해능이 높고 분석시간이 빠르다.
비파괴분석
정확한 정량분석이 가능
시료준비가 까다롭고 적절한 표준시료를 선택하는데 어려움 → 시료마다 적절한
분석조건 필요
분석결과는 전문적인 지식 필요 → 설치할 때 비용이 많이 들고 전문 분석가가 관리해야 한다.
광물의 정량분석에는 가장 정확하고 편리한 분석법
밝게 보이는 부분
유색광물
무거운 금속 원소 함유
어둡게 보이는 부분
무색광물
장석이나 석영같은 광물 함유
◈ EDS
입사전자에 의해 발생되는 시료의 X선 에너지를 측정하여 화학 조성의
정성/정량(정확한 성질/정확한 양) 분석이 가능하다.
검출되는 원소들간의 상대적인 정량관계를 나타냄
◈ WDS
입사전자에 의해 시료에서 발생되는 파장을 가지고 시료의 정성/정량 분석을
수행
절대적인 정량법을 사용
간극 고용체 : 어떤 결정구조를 이루는 이온이나 원자들 사이에 간극이 존재하는데, 이 틈새에 작은 이온이나 원자가 들어감으로서 결정의 화학조성이 변하는 것
결손 고용체 : 결정구조 내부에 빈자리가 생겨 화학조성이 달라지는 고용체
치환 고용체 : 성분사이에 치환이 일어나는 범위에 따라 완전고용체와 불완전
고용체로 나눔
완전고용체
ex) 감람석 : (Fe, Mg)2SiO4 → Fe와 Mg가 0 ~ 100% 범위에서 무제한으로 치환되는
완전 고용체
제한고용체
ex) 섬아연석 : (Zn, Fe)2S → 일정한 범우에서 치환이 일어나는 제한 고용체
◈ 원자의 치환이 일어날 수 있는 범위 : 구조와 성질, 대응하는 이온반지름의 유사성과 전하 및 광물의 생성온도에 따라 결정된다.
구조와 성질 : 원자 치환의 정도에 상당한 영향
이온의 크기
2개 이온의 크기차이가 15% 이하 → 넓은 범위에 걸쳐 치환
2개 이온의 크기차이가 15 ~ 30% → 제한적 치환
2개 이온의 크기차이가 30% 이상 → 치환이 매우 어려움
◈ 이온의 치환은 전하의 차이가 1보다 클 때 이온의 크기가 적당해도 거의 일어나지 않는다. 그 이유는 동반되는 치환에 의해 전기적으로 중화되기 어렵기 때문이다.
◈ 원자의 치환범위 → 온도상승에 따라 확대됨
◈ 용리 : 고온에서 균질한 고용체를 이루던 물질이 두 개 이상의 서로 다른 결정질 물질로 분리되는 현상.
◈ EPMA(Electron Probe X-ray Micro Analysis)
전자현미 분석기 : 고체 시료의 화학조성을 분석하는 장치
분석분해능이 높고 분석시간이 빠르다.
비파괴분석
정확한 정량분석이 가능
시료준비가 까다롭고 적절한 표준시료를 선택하는데 어려움 → 시료마다 적절한
분석조건 필요
분석결과는 전문적인 지식 필요 → 설치할 때 비용이 많이 들고 전문 분석가가 관리해야 한다.
광물의 정량분석에는 가장 정확하고 편리한 분석법
밝게 보이는 부분
유색광물
무거운 금속 원소 함유
어둡게 보이는 부분
무색광물
장석이나 석영같은 광물 함유
◈ EDS
입사전자에 의해 발생되는 시료의 X선 에너지를 측정하여 화학 조성의
정성/정량(정확한 성질/정확한 양) 분석이 가능하다.
검출되는 원소들간의 상대적인 정량관계를 나타냄
◈ WDS
입사전자에 의해 시료에서 발생되는 파장을 가지고 시료의 정성/정량 분석을
수행
절대적인 정량법을 사용
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