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실험 한올 출판사 1997
이성필 고성태 박상현 한수용 전기 전자 기초 실험 대영사 1997
http://www.eungok.hs.kr/99/5/sil4.htm 1. 다이오드
(1) n 형 반도체와 p 형 반도체
(2) pn 접합과 정류 회로
(3) 다이오드의 전류 전압 특성
(4) 다이오드의 용도
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2SC316A npn형의 개량형 고주파용 트랜지스터
Ⅳ. 실험 방법
1) 다음과 같은 회로도를 그린다.
3) PSPICE를 이용하여 특성곡선을 출력한다.
참고문헌
James J. Brophy, Basic Electronics for Scientists, McGrow Hill
이석목, 2003년 1학기 전자물리학 강의노트
안영화
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브릿지들은 고장 원인이나 또는 미지의 저항을 측정할 수 있는 가장 유용한 회로라는 것을 간접적으로 나마 느끼고 알게 된 것 같아서 한편의 수확을 거둘 수 있었던 것 같다. 1. 목적
2. 이론 및 실험 방법
3. 결과
4. 고찰 및 검토
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회로의 개방과 단락이 가장 대표적인 회로의 고장 원인이다는 것을 조금 알 것 같다. 저항이 타버리는 경우에는 그 저항은 보통 개방되게 된다는 것을 알게 되었고, 조금 신기하기도 했다. 이 실험을 끝내고 리포트를 쓰는 와중에서 여러 응용
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편찬위원회, 교문사 p.394
⑤ http://physica.gsnu.ac.kr/PhysEdu/modexp/Pelect2/main.htm
⑥ http://www.sejon.or.kr/simpl/si_c/11_yamamodo/11y04_02.shtml
⑦ http://www.mathtown.pe.kr/Dk/D1067.htm 1. 제목
2. 날짜 목적
3. 실험 기본 이론
4. 실험 장치 및 방법
5. 예비고찰
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