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다르므로 분자의 결합상태가 변하게 된다. 비등이나 증발에 의해 기화가 될 경우 간혹 큰속도를 가진 분자가 조금씩 이탈해 가면 남아있는 분자집단 운동에너지의 평균치는 외부에서 열이 주어지지 않는한 저하해 갈 것이다. 따라서 어떠한
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실험을 반복한다.
▲ Outcome
기구: 열선 1m, 저항 3㏀, 전압발생기, 측정기
구 분
측 정 값
구 분
측 정 값
저 항 값()
3 ㏀
저 항 값()
3 ㏀
열선길이()
60.5 Cm
열선길이()
94.6 Cm
열선길이()
39.5 Cm
열선길이()
5.4 Cm
미지저항계산()
1959 Ω
미지저항계산()
17
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. 그 밖에 회로를 구성한 부품들의 저항 등의 사소한 부분에도 원인이 있다고 본다.
3. 참고문헌
연세대 물리실험실(http://phylab.yonsei.ac.kr/) 1. 데이터 분석
1) 실험 결과
(1) RCL 회로
(2) RCL 공명회로
2) 질문
2. 토의
3. 참고문헌
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어쩔 수 없이 약간 낮은 샘플링 속도로 전압을 측정했던 점도 오차의 원인이라고 생각된다.
3. 참고문헌
연세대 물리실험실(http://phylab.yonsei.ac.kr/) 1. 데이터 분석
1) 실험 결과
(1) RC 회로
(2) RL 회로
2) 질문
2. 토의
3. 참고문헌
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회로로 바꿀 수 있음을 의미한다. 여기서 VTh는 단자 ab의 개방회로의 전압이고는 RTh는 독립 전원은 단락, 독립 전류원은 개방시 단자 ab에서 들여다 본 전체 저항을 말하는 것이다.
Chapter2. 실험 결과 (시뮬레이션)
PSpice 모의실험 - Ch.3 BJT의 고
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of Microelectronics]
B.Razavi 저 | John Wiley 2nd Edition
[전자회로실험]
이현규, 김영석 저 | 충북대학교출판부
[FLOYD 기초회로실험 제9판 - 원리와 응용]
David M. Buchla 저 | 도서출판 ITC
[전기 전자 통신공학도를 위한 기초회로실험]
강경인 저ㅣ문은당
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of Microelectronics]
B.Razavi 저 | John Wiley 2nd Edition
[전자회로실험]
이현규, 김영석 저 | 충북대학교출판부
[FLOYD 기초회로실험 제9판 - 원리와 응용]
David M. Buchla 저 | 도서출판 ITC
[전기 전자 통신공학도를 위한 기초회로실험]
강경인 저ㅣ문은당
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결과의 적절성을 보여라. (두 주기의 입출력 파형이 출력되도록 설정, Run to time = ) ※ Diode : 1N4148
1. 반파 정류회로
2. 반파 정류회로
3. 반파 정류회로
4. 전파 정류회로
5. 클램퍼 회로
6. 건전지를 포함한 클램퍼 회로
PSpice 모의실험 - Ch.3 BJT의
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3. 옴의 법칙과 저항의 직렬/병렬회로
4. 키르히호프의 법칙
5. 오실로스코프의 사용법
6. 캐패시터의 특성 및 RC 직렬회로
7. 파형의 미분과 적분
8. 인덕터의 특성
9. 인덕터의 직/병렬연결 및 RL직렬회로
10. RL 및 RC병렬회로
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물리적 특성과 JFET에 연결된 외부회로가 동작 영역을 결정한다. 이 실험에서는 JFET의 주어진 회로 규격들에 부합하여 선형 영역에서 동작하도록 바이어스 한다. 실험에 관련된 이론 1
실험회로 및 시뮬레이션 결과 1
실험방법 및 유의사
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