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않기 때문인 것도 있다. 이번 실험엔 저항을 개별적으로 측정하여 회로와 가장 근사한 값으로 만들었으나 여전히 정확한 저항값 이 아니였다.
○ 그래프 ○ 실험 목적과 목표
○ 회로도
○ 실험 12의 랩뷰 값
○ 결과 및 결론
○ 그래프
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트랜지스터를 사용하여 단RP2에서 5까지 반복한다.
결 론
이 실험에서는 콜렉터 귀환 바이어스된 회로에서의 전압과 전류를 확인하였고 더불어 회로에 대한 직류부하선을 그렸다. 목적 및 배경
부품 및 사용기기
유용한 공식
실험절차
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28.6% 까지 나오게 되었다. 소자의 특성과, 측정 장비, 전원공급장치 등 너무 많은 오차 원인이 있을 수 있다.
트랜지스터의 이미터 바이어스를 알게 해준 실험이었다. ○ 실험 목적과 목표
○ 회로도
○ 실험 10의 데이터
○ 결과 및 결론
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12.45 %
2.063 %
○ 결과 및 결론
실험 11-1의 측정값이 오차가 5% 이내로 나와 만족스러운 실험이었다. 그 이하로 줄이지 못했던 이유는 2N3904 트랜지스터 자체가 저항처럼 오차가 많은 소자라는 것이 가장 큰 원인이 였던것 같다. 또한 가변저항을
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2k
3k
4k
5k
6k
7k
8k
9k
10k
Vce
0.027616501
0.037713051
0.045740128
0.053123474
0.060530186
0.068597794
0.078320026
0.092005253
0.119498253
0.594518661
1.569693565
가변저항 에 따른 Vce값 (1k부터 10k 까지 1k씩 증가) 목적 및 배경
부품 및 사용기기
유용한 공식
실험절차
결 론
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실험방법 및 순서 8
5. Simulation 11
6. 주의사항 및 주요 관찰사항 16
실험 3. 트랜지스터 증폭기 실험 17
1. 실험 목적 17
2. 기초이론 17
3. 예비 보고서 21
4. 실험기자재 및 부품 21
5. 실험방법 및 순서 22
6. 실험결과 23
실험 4. FET
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결과
위의 그림 8에서와 비슷한 회로도를 이용하여 작성한다..
그림 10
참 고 문 헌
James J. Brophy, Basic Electronics for Scientists, McGrow Hill
안영화 외3명, 전자공학으로의 초대
홍순관 외2명, PSpice와 함께 하는 기초 전자전기공학실험, 홍릉 출판사
이석
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-3의 랩뷰 블록 다이어 그램
Sin 파를 넣은 후 그래프 값
RL 을 뺀후 그래프 값
바이패스 콘덴서 제거 후
오실로 스코프 측정 값
○ 결과 및 결론
이번 실험은 12장 실험에 비해 상당히 어렵고 난이도가 있는 실험이다. 오실로스코프 와 신호발생
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실험 16의 데이터 - 랩뷰 (표16-1)
[표 16-1 의 랩뷰 블록다이어 그램]
[표 16-1 의 실험내용]
○ 실험 16의 데이터 - 랩뷰 (표16-3)
[표16-3 실험의 랩뷰 블록 다이어그램]
[1kΩ 저항 사용시]
[무저항시]
[470Ω 저항 사용시]
○ 결과 및 결론
공통베이스 증
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가지며, 이는 모든 급의 동작 중 에서 가장 높은 효율이다. ○ 실험 목적과 목표
○ 회로도
○ 실험 25의 데이터
○ 실험 25의 데이터 - 오실로스코프
○ 실험 25의 데이터 - 랩 뷰
○ 실험 25의 데이터 - 부하선
○ 결과 및 결론
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