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실험상의 문제에 의하여 그 결과가 보여지지 않는 것으로 보이며, 올바른 실험 결과를 얻기 위하여 여러 가지 상황을 생각하여 실험을 수정해 보았다.
우선 hall effect apparatus내부 회로의 전기적인 연결이 문제가 생겨 내부 전위차를 측정할 수
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Q1 과 Q2의 전압이득, 전체 전압이득을 구한다.
측정된 실험값을 바탕으로 계산된 값과, 시뮬레이션상의 이론 값을 비교한다. 요약문 1
실험내용 1
문제점 및 애로사항 14
설계프로젝트 진행사항 15
결론 15
(별지) 측정 Datasheet 15
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다양한 기본적인 연산증폭기를 알아보고 실험을 통해 전압을 측정하여 각각의 증폭기 회로를 해석하는 것이 이번 실험의 목적 요약문 1
실험내용 1
실험결과 3
문제점 및 애로사항 5
설계프로젝트 진행사항 5
결론 5
(별지) 측정 Datasheet
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14]의 실험 회로를 브레드보드에 구성하라. 저항 R1=200[Ω], R2=200[Ω], R1=200[Ω]을 사용한다.
(2) 직류전원 공급 장치의 출력단 P1을 5[V]로 설정한 다음 실험 회로에 연결하라.
(3) [그림 2-15]는 실제로 브레드보드에 실험 회로를 구성한 모습이다.
(4)
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실험
1.4.1 컬러코드 연습
(1) [표 1-2]에 주어진 저항을 준비하고, 컬러코드를 확인하여 표에 기록하여라.
(2) 각 저항을 멀티미터로 측정하여 값을 기록하라.
(3) 멀티미터 측정값 [M]과 저항값 [T]간의 [%]오차를 구하여 [표 1-2]에 기록하라. 이때 식
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실험
8.4.1 커패시터 용량을 읽는 법
[표 8-2]에 나타낸 커패시터의 용량을 읽어 기록하라.
[표 8-2] 커패시터 읽기
표시숫자
용량
허용 오차
105C
10[] = 1[] = 1[]
0.25[]
224K
22[] = 0.22[] = 0.22[]
10%
336F
33[] = 33[]
1%
221G
22[]
2.0[]
8.4.2 용량에 따른 리액턴스 변
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공통모드 제거비(CMRR)값은 데이터시트 값의 안쪽에 들어오기는 하나 아슬아슬하게 들어오는 모습을 보여주었다. 아무런 다른 저항이 없는 멀티심 측정이 ELVIS 측정보다 오차가 많이 나왔다. 어느정도 실제 실험에서 거의 제대로 측정하여 실
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전기 신호가 시간에 따라 변화하는 모습을 볼 수 있다. 오실로스코프는 주파수, 펄스 전압, 충격성 전압, 주기, 파형 등을 측정 할 수 있는 계기이며, 전자 기기의 특성 관측이나 수리, 조정 등에도 많이 쓰이는 측정기이다. 1. 목적
2. 이론
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증폭기(amplifier)에는 에미터 접지 증폭기(common-emitter amp.), 베이스 접지 증폭기(common-base amp.), 콜렉터 접지 증폭기(common-collector amp. 혹은 emitter follower)가 있다.
⑴ 에미터 접지 증폭기(Common Emiter Amplifier)
다음 에미터 접지 증폭기 회로 [그림5
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컴퓨터에 있다. 이득과 같은 최종 요소의 특성이, 온도 변화와 op-amp자체의 불균일한 제조상태에 거의 의존하지 않고, 외부 부품에 의해서 설정되기 때문에 회로 설계에서 인기가 있다. 연산증폭기는 오늘날 가장 널리 쓰이는 전자 부품 중의
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