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회로실험, 이행세 외 1명, 2003년
- 디지털 전자회로, 유관식, 2001년
- OP-Amp 회로 실험, 강경일
- 회로이론, 정타관, 1993년
- ynucc.yeungnam.ac.kr/~yssuh/Analog
- home.cmh.hs.kr/~choys/elec
- my.netian.com/~twssd/8051a/dac.htm Ⅰ. 서론
Ⅱ. 본론
1. DAC의 종류 및 특
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응용력을 학습한다.
b. OP AMP 비반전 증폭기의 사용법과 다양한 응용력을 익히게 한다.
2. 관련 이론
1) 반전 증폭기(inverting amplifier)
2) 비반전 증폭기 (non-inverting amplifier)
<< 비교기 실험 >>
1. 실험목적
a. 연산증폭기의 포화
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1. 실험 목적
OP 앰프의 기본 특성을 이용한 비반전 및 반전 증폭 회로를 구성하고 그 원리를 이해한다.
2. 관련 이론
a. 반전증폭기 회로
그림 5.9는 반전증폭기 회로를 나타내었다. OP Amp는 선형영역에서 동작하는 것으로 하였다. OP Amp에 추
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브릿지들은 고장 원인이나 또는 미지의 저항을 측정할 수 있는 가장 유용한 회로라는 것을 간접적으로 나마 느끼고 알게 된 것 같아서 한편의 수확을 거둘 수 있었던 것 같다. 1. 목적
2. 이론 및 실험 방법
3. 결과
4. 고찰 및 검토
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회로의 개방과 단락이 가장 대표적인 회로의 고장 원인이다는 것을 조금 알 것 같다. 저항이 타버리는 경우에는 그 저항은 보통 개방되게 된다는 것을 알게 되었고, 조금 신기하기도 했다. 이 실험을 끝내고 리포트를 쓰는 와중에서 여러 응용
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