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관측이 용이하도록 한 다음, 두 파원의 위치, 중앙선 및 가장 어두운 곳(즉, 인 지점)을 백지위에 그려 놓는다. 여기서 구한 지점들의 , , 과 로부터 를 구한다. 이때, 지점들은 물결통이 스트로보 공원에 의하여 투사된 상이므로 확대된 배율을
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파원에서 생기는 파동의 간섭을 이용하여 물결파의 파장을 구하는 실험이었다. 반파장의 짝수배인 보강간섭부분, 즉 밝은 부분에 점을 찍어 두개의 파원에서의 거리를 측정해 경로차와 파장을 구할수 있다. () 그리고 이 식을 이용하여 물결
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물결파처럼 파동성을 가지며 이로 인해 간섭현상이 생김을 알 수 있다.
2.또한 이 간섭현상에는 보강간섭과 소멸간섭이 있으며 스크린에 생긴 간섭무늬를 통하여 알 수 있다.
3.간섭무늬에 대한 공식을 이용하여, 빛의 파장이나 슬릿폭 또는
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파장과 파장이 일부 겹쳐질것이고 그로 인해 간섭현상이 일어날것이다. 그 장면까지 목격했다면 더욱 신선한 실험이 되었을건데 그거까진 해보지 못해서 좀 아쉬움이 남는다.
7. Reference
http://physica.gsnu.ac.kr/physedu/modexp/e_m/main.htm
일반물리실험
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측정준비
① 측정파장에 따라 필요한 광원과 광전측광 검출기를 선정한다.
② 전원을 넣고 잠시 방치하여 장치를 안정시킨 후 감도와 영점(Zero)을 조절한다.
③ 단색화 장치나 필터를 이용하여 지정된 측정파장을 선택한다.
4) 흡광도의 측
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이용한 나노 패턴 제작
1. 홀로그래픽 리소그래피(Holographic Lithography) 시스템 원리
2. 홀로그래픽 리소그래피(Holographic Lithography) 시스템 구성
3. 감광제(Photoresist) 도포 조건의 도포 두께에 대한 영향 및 최적화
4. 노광시간(Exposure Time)의 영향
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이용한 광통신에 이어 또 다른 빛의 혁명이 시작되고 있다. 고휘도 LED를 이용한 반도체 조명이 그 주역이다. 반도체 기술의 획기적인 발달로 빛의 삼원색인 적색, 녹색, 청색뿐만 아니라, 적외선, 자외선 영역의 빛과 또한 이를 이용하여 백색
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이용한다. 그 개략도는 그림[3-1]과 같다.
[그림3-1]프리틸트각 측정
측정기 내부에 있는 편광자와 검광자는 평행하고 검출기를 통해 프리틸트각을 측정하는 방법이다. 사용되는 레이저는 He-Ne 레이저로 파장은 632.8nm 인 단일파장 광원이 사용된
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이용
*RI저장실 : 내화구조로 철근 콘크리트로 만드는 것이 이상적
24. Background의 측정
: 차폐 효과의 확인, 관리 구역의 설정, 사고의 조기 발견을 위한 비교 자료, 환경 측종시의 기초 자료
25. Apron과 glove
: apron과 glove의 X선 방어 납당량(mmPb) : 0
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