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오실로스코프에 나타나는 파형]
100Hz 1kHz 10kHz100kHz 1MHz
(3) 함수발생기를 사각파, 삼각파 등으로 전환하여 파형을 확인한다.
삼각파 (1MHz) 사각파 (1MHz)
(4) 스위프 주파수의 변화폭
■ 토론
이번 실험은 함수 발생기(Function Generator)와 오실로스코
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오실로스코프, function generator등의 사용법을 정확히 알지 못하다 보니 기계적인 오차가 발생할 수 있다. 알지도 못한 사이에 오차가 발생한다는 것이다.
다음 실험부터는 실험 장치에 대한 이해가 우선 되어야겠다.
이번 실험을 통해 공진회
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오실로스코프를 이용해 서 전압전류의 파형을 그리고 위상차,주기,주파수를 구한다.
⑤ < R-L-C 병렬 회로> 이제 병렬회로에서의 임피던스를 측정한다, 먼저 만을 열고 나머지는 모두 닫는다.
⑥ 회로와 오실로스코프, function generator를 연결
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오실로스코프, Function generator (함수발생기), RLC 기판 (저항 축전기 유도기),
실험 준비물
전선, 프로브, 사진기
다. 실험 방법
1) 측정
① 오실로스코프에 프로브를 연결하여 영점조절을 한다.
② 저항기는 200Ω, 유도기는 3.2H, 축전기는 8.8㎌을
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오실로스코프, Function generator를 그림 7.4와 같이 설치한다. 피스톤을 마이크폰의 가까운 위치로 움직인다. 약 주파수를 800Hz가 되게 조정하고, 스피커가 깨끗하게 들릴 때까지 진폭을 증가시킨다.
② 스피커로부터 튜브에서 증폭되어진 소리가
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오실로스코프 ⑥ Function Generator
실험 방법
① 순방향일 경우 (a)와 같이 회로도를 구성한다.
② 역방향일 경우 (b)와 같이 회로도를 구성한다.
③ 반파 정류 회로를 구성하려면 전원을 교류로 바꾸어 sin파로 바꾸어준다.
④ 오실로스코프를 통
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1. 목적 : 순차적 논리회로의 기본 소자인 래치와 플립플롭의 여러 종류에 대한 기능의 차이를 알아보고 동작 조건을 확인한다.
2. 실험 준비물
- 직류전원장치 1대
- 오실로스코프 1대
- Function Generator 1대
- Bread Board 1대
- Quad 2 Input NAND Gate (7
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오실로스코프 ⑥ Function Generator
실험 방법
(1)TR의 콜렉터 특성 곡선
① 위 그림처럼 회로를 꾸민다.
② IB를 10 mA로 조정한다. VCE를 1,2,3,4,5,6v로 변화 시켜 가며 그에 따 라 IC값을 측정 한다.
③ IB를 20 mA로 조정한다. VCE를 1,2,3,4,5,6v로 변화 시켜
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오실로스코프의 프로브를 연결하라. 오실로스코프의 자동(AUTO)설정 단추를 눌러 파형이 표시되도록 하여 앞의 3번에서 5번까지의 실험을 멀티미터 대신 오실로스코프를 써서 다시 하라. 이때 필요한 경우 입력 커플링을 DC로 전화하여 DC 오프
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오실로스코프의 프로브를 연결하라. 오실로스코프의 자동(AUTO)설정 단추를 눌러 파형이 표시되도록 하여 앞의 3번에서 5번까지의 실험을 멀티미터대신 오실로스코프를 서서 다시하라. 이때 필요한 경우 입력 커플링을 DC로 전환하여 DC오프셋
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