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Function generator)
-각각 다른 주파수와 진폭을 갖는 몇 가지 형태의 파형을 출력하는
장치.
-RANGE에서 주파수 단위버튼을 선택할 수 있다.
-다이얼을 이용하여 필요한 주파수크기를 설정할 수 있다.
-AMPLITUDE(진폭) 버튼을 이용하여 첨두치(Vp-p,
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Function generator: 1 대
DC Power Supply(Regulated DC Power supply(Max 20 V 이상): 1대
Digital Oscillo오실로스코프(Probe 2 개 포함): 1 대
Digital Multimeter(이하 DMM, 220V 교류전원 사용): 1 대
40 cm 연결선: 빨간 선 4개, 검은 선 4개(한쪽은 계측기에 꼽을 수 있는 잭, 다
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Function generator: 1 대
DC Power Supply(Regulated DC Power supply(Max 20 V 이상): 1대
Digital Oscillo오실로스코프(Probe 2 개 포함): 1 대
Digital Multimeter(이하 DMM, 220V 교류전원 사용): 1 대
40 cm 연결선: 빨간 선 4개, 검은 선 4개 (한쪽은 계측기에 꼽을 수 있는 잭
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오실로스코프, 함수 발생기(Function generator),
1N4004(1개), 1N4728(1개), 저항(resistor), 커패시터(capacitor) 등.
3. 기초 이론
● 다이오드
- 다이오드란 전압을 일정한 방향으로 인가했을때만 전류가 흐르는 정류작용을 하는 2단자 반도체이다. 주
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서플라이, 디지털 멀티미터, 오실로스코프, 함수 발생기(Function generator), 연산 증폭기(LM741), 저항 등. 1. 실험 개요
2. 실험 기자재 및 부품
3. 배경 이론(실험 이론)
4. 실험 절차 및 Pspice Simulation 결과
5. 분석 및 고찰 사항
6. 참고문헌
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서플라이, 디지털 멀티미터, 오실로스코프, 함수 발생기(Function generator), 연산 증폭기(LM741), 저항 등. 1. 실험 개요
2. 실험 기자재 및 부품
3. 배경 이론(실험 이론)
4. 실험 절차 및 Pspice Simulation 결과
5. 분석 및 고찰 사항
6. 참고문헌
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오실로스코프의 기계오차를 말할 수 있다. 또 Function generator가 안정한 상태가 아니라 불안정한 상태이므로 오차를 발생시키기 쉽다. 또 불안정한 상태이다 보니 0.01kHz단위로 주파수가 조금씩 변하기도 하였는데 이 차이는 10Hz의 차이임으로
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오실로스코프, 함수 발생기(Function generator), 2n7000 (NMOS) 1개, 저항, 커패시터, FQP17P10(PMOS) 2개 (모의실험은 FDC6322CP 사용) 1. 실험 개요
2. 실험 기자재 및 부품
3. 배경 이론(실험 이론)
4. 실험 절차 및 Pspice Simulation 결과
5. 고찰
6. 참고문헌
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디지털 멀티미터, 오실로스코프, 함수 발생기(Function generator), Q2N4401(혹은 Q2N2222) 1개, 저항, 커패시터 등 1. 실험 개요
2. 실험 기자재 및 부품
3. 배경 이론(실험 이론)
4. 실험 절차 및 Pspice Simulation 결과
5. 분석 및 고찰 사항
6. 참고문헌
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오실로스코프를 이용하는 것이다. 너무 오랫만에 써보는 것이어서 처음에는 주파수를 잡기 힘들었지만 조금 하다보니 우리가 원하는 파형을 얻을수 있었다. function generator에서 TTL 파형을 출력하고 주파수가 1Hz 정도로 했기 때문에 주파수 잡
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