|
않기 때문인 것도 있다. 이번 실험엔 저항을 개별적으로 측정하여 회로와 가장 근사한 값으로 만들었으나 여전히 정확한 저항값 이 아니였다.
○ 그래프 ○ 실험 목적과 목표
○ 회로도
○ 실험 12의 랩뷰 값
○ 결과 및 결론
○ 그래프
|
|
|
실험한 적이 있는데 BUFFER는 일반적으로 신호의 증폭이나 BOUNCE 현상을 제거하기 위해 쓰인다. 따라서 위 회로에 쓰인 CMOS BUFFER또한 같은 이유이다. CMOS는 TTL에 비해 동적 안전성이 부족하다. 이 점을 보완하기 위한 것이다. 1. 실험 결과정리
|
|
|
, 그 크기는 제너 전압과 같게 된다.
참고문헌
일렉트로닉스 : MALVINO : 대영사
신회로이론 : 박송배 저 : 문운당
일반전자공학실험 : 김태중 저 : 상학당 1. 실험일자 :
2. 실험제목 : 실험 #9 Diode 및 Zener diode의 특성
3. 실험결과
|
|
|
비례해서 걸려 있다는 것을 알 수 있었다.
6.참고문헌
- 전기 전자 기초 실험 (포인트)
- 일반 전자 공학 (삼원출판)
- 전기 공학 (학문사)
- 두산백과사전 1.실험목적
2.실험도구
3.실험방법
4.실험결과
5.검토 및 고찰
6.참고문헌
|
|
|
카나프 맵 상에서 같은 양단 끝에 있는 1의 표시 칸은 합하여 1개의 루프로 만들어 묶을 수 있다. (Rolling)
▶ 비교기 회로도
▶ 그림 8-5 회로도 논리회로의 간소화
■ 실험 목표
■ 사용 부품
■ 관련이론
■ 실험 순서
■ 심층 탐구
|
|
|
기반으로 하여 회로를 설계해도 별 무리가 없겠다.
3. 반전 증폭기 P-spice 시뮬레이션 수행 결과
회로도 -
시뮬레이션 결과 값:Run to Time :10ms 1. 실험 목적
2. 관련 이론
3. 반전 증폭기 P-spice 시뮬레이션 수행 결과
4. 시뮬레이션 결과
|
|
|
실험에 사용되는 기기
4.1 디지탈 테스터기
4.2 제품사양
5. 측정방법 및 순서
5.1 구조 및 계측방법
5.2 측정순서
6. 측정시 주의사항
Ⅲ. 결론 및 고찰
1. 실험결과
1.1 온도측정 결과정리
1.2 결과그래프
2. 결론 및 고찰&n
|
|
|
사용될 수 있습니다. 이 지연 시간은 클력 주파수를 변화시킴으로써 늘리거나 줄일 수 있습니다. 또한 데이터 비트의 자리이동을 통해 산술 및 논리연산을 수행할 수 있도록 합니다. 실험목적
실험준비물
예비과제
실험
설계 및 고찰
|
|
|
결과를 근거로 저항기의 직렬 연결에 대한 일반화된 수식을 쓴다.
③ 지정된 조건을 만족하는 직렬 회로 설계 실험
1. 사용할 저항들을 여러 가지로 조합하여 등가 저항의 저항값을 측정한다.
2. 10V 전원에 의해 5mA의 전류가 흐르는 직렬회로를
|
|
|
0.057/0.407 × 100% = 14.00%
구리-납 전지 0.6V 0.337--0.356=0.693V
오차 : 0.093/0.693 × 100% = 13.42%
참고자료 표준 일반화학실험(제 6개정판) 1.실험제목
2.실험날짜
3.분석
4.이론
5.기구 및 시약
6.실험방법
7.실험결과
(실험값 결과처리)
|
|
메뉴펼치기
