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출처
https://ko.wikipedia.org/wiki/%EC%98%A4%EC%8B%A4%EB%A1%9C%EC%8A%A4%EC%BD%94%ED%94%84
https://ko.wikipedia.org/wiki/%ED%95%A8%EC%88%98_%EB%B0%9C%EC%83%9D%EA%B8%B0
https://blog.naver.com/yd5334/130087019393 제목
실험 목적
실험 장비
이론
출처
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오실로 스코프는 peak수치로 표시하고 멀티미터기는 실효치(RMS)값으로 표시하기 때문에 서로 차이가 있는 것이다.
※참고문헌
①전자회로기초및응용, 상학당, 남상엽 외2명, 06년7월1일, 271p~273p
②전자통신기초실험, 상학당, 전자통신연구회, 0
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STOP 하여 값을 읽는 과정에서 약간의 오차가 생겼을 것이다. 1. 관련 이론(Theoretical Background)
2. 결론 및 Discussion
3. References
RLC회로의 과도 상태 특성,기초회로실험,한양대에리카,기초회로실험 에리카,과도상태,RLC 과도상태,RLC 과도
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of Microelectronics]
B.Razavi 저 | John Wiley 2nd Edition
[전자회로실험]
이현규, 김영석 저 | 충북대학교출판부
[FLOYD 기초회로실험 제9판 - 원리와 응용]
David M. Buchla 저 | 도서출판 ITC
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실험을 하면서 어떤 단자를 어디에 연결하고 그때마다 독립변수의 값도 어느 정도 다양하게 해야 하는지를 알 수 있었을 것 같아서 그게 조금 아쉬웠다.
비록 과가 전기전자쪽이 아니라 이번 실험이 앞으로의 전공 공부에 도움을 줄 수 있을
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오실로스코프(Oscilloscope) 사용법
1. 실험목적
2. 실험장치
(1)실험실용 오실로스코프 (Triggered-type Oscilloscope)
(2)함수발생기(Function Generator)
3. 이론
4. 실험방법
5.결과
실험2) 오실로스코프(Oscilloscope)를 이용한 파형측정
1. 실험
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전자 기기 및 시스템의 설계에 있어 중요한 기초 지식을 제공한다. 이러한 이해를 바탕으로, 인덕턴스를 활용한 응용 기술은 점점 더 발전하고 있으며, 현대 전기전자 기술에서 핵심적인 역할을 수행하고 있다. 1. 실험의 목표
2. 이론적
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전기·전자공학 기초실험 / 황갑주 외 4인 / 도서출판 대웅
◇ 최신 기초 실험 / 김영일 외 3인 / 기전연구사
◇ 기초 전기·전자공학 / 김종수 외 5인 / 청문각
◇ http://cyber.inha.ac.kr/class/stud/note/lec_no_list.asp
시뮬레이션 결과 분석
R = 100Ω , L= 30mH ,
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실험수행을 위해서는 실험에 대한 사전 준비와 예비레포트의 중요성을 다시 한번 느낄 수 있었다.
7.참고문헌 및 출처
일반물리학실험, 부산대학교 물리학 교재편찬위원회, 청범출판사, p217~223
전기전자공학개론, Giorgio Rizzoni, McGraw-Hill Korea, p
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(Z)를 준 후 오실로스코프에 연결하면 전압의 변화를 오실로스코프의 화면에 출력한다. 기초회로실험 - Oscilloscope and Function Generator
1.서론
(1) 오실로스코프
(2) 함수 발생기
2. 오실로스코프와 함수 발생기 실험 결과
3. 검토 및 결론
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