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회로
X-선 발생장치
(GENERATOR)
3. 실험결과
<경도측정>
시효시간
경도1
경도2
경도3
0
19
32
19
10분
17.5
16
17
1시간
19
19
20.5
4시간
17
17.5
18.5
48시간
21
24.5
22
<XRD 회절 데이터>
*순수 구리의 회절 강도: 1st peak(2
theta
) : 43.295
2nd peak(2
theta
) : 50.431
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회로에 흐르는 전류의 크기는 전압에 비례하고 저항에 반비례한다.
☞출처: http://blog.naver.com/nanodevice?Redirect=Log&logNo=90014662536
⑶ 실험기구 및 장치
컴퓨터, 인터페이스, 전기기초실험장치, 연결잭
⑷ 실험 순서 및 방법
① 그림 3과 같이 실험장
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회로, 고체나 분자내에서의 원자의 진동 등 많은 물리계에서 나타나며 따라서 물리학에서 매우 중요시되고 있는 운동이다. 본 실험에서는 중력장내에서 수직으로 운동하는 용수철 진자의 단순 조화 운동을 관찰, 그 주기를 측정하고 탄성위
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전자레인지를 사용할 때 가까운 거리에 있으므로 이에 대한 조치가 시급한 것으로 생각된다
2.컴퓨터 본체와 모니터
주파수가 높거나 교반하는 전류가 클 수록 전자파가 잘 방사되기 때문에 일반적으로 고주파 클럭을 사용하는 디지털 회로
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실험은 무사히 끝났고 오실로스코프의 추가 데이터는 최솟값 : -69.9v, 상승시간 : 209.6us, 하강시간 : 288.5us 라는 추가 데이터 값도 얻었다. 그런데 신기하게 실제 입력 전압보다 측정된 최대 전압의 값이 더 작았는데 찾아보니 회로에 저항이 있
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실험분석
각 실험에서의 회로의 용량 시간상수를 구하기 위한 식은 아래와 같다.
이번 실험에서 시간의 기준을 제대로 잡고 측정해야 주어진 RC값과 실험으로 구한 RC값을 비교할 수 있는데 실험 미숙으로 비교는 하지 못하였다.
3. 실험결론
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실험이니만큼 조교님들께서 사전에 주의를 주셨으면 실험이 더 수월하게 진행되지 않았을까 하는 생각도 들었다.
Common source 증폭기의 설계실습은 잘 되었다고 생각한다. 설계한 회로대로 브레드 보드에 연결한 결과, 오실로스코프를 통한
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실험에서는 저항의 크기와 관계없이 오차가 발생했는데 이는 도선의 저항이 도선마다 다르기 때문에 회로가 복잡할수록 저항이 아닌 다른 요인의 영향을 많이 받았을 것이라고 추측한다. 1. 실험 목적
2. 관련 이론
3. 실험 과정
4. 실험
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- Quad 2 Input XOR Gate (74LS86) 2개
- 점퍼선 다수
3. 설계 실습 계획서
(1) AND, OR, NOT 게이트를 사용하여 NAND, NOR, XOR 게이트의 기능을 갖는 회로도를 그리고, XNOR (Exclusive NOR)의 진리표를 사용하여 AND, OR, NOT 게이트로 XNOR의 회로도를 설계하라.
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실험과정을 반복한다.
⑧만약 원판(disk)이나 환(ring)모양의 도체를 수조 상에 놓으면 등전위선들은 어떤 모양으로 변하는가? 또 원판 상의 점들, 환 내부의 점들은 어떻게 되는가?
5.참고문헌
*대학물리학 실험, 김기식외 11인, 인하대학교 출판
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