|
회로판과 슬라이 닥스를 이용하였다. 여기서 RC 회로나 RL 회로 실험을 할때 회로를 잇기 위하여 L와 C 자리에 도선으로 연결해 주었다. 그리고 전압을 측정할 때도 회로가 불필요하게 길어지는 일이 발생 했다. 오차를 줄이기 위해 전위차는 최
|
|
|
회로에서 두 점 사이의 전위차가 없는 것(전위차가 0인 경우) V21 =V2 -V1 [V]
[2] 휘트스톤 브리지
① 휘트스톤 브리지 : 4개의 저항 P, Q, R, X에 검류계를 접속하여 미지의 저항을 측정하기 위한 회로.
②브리지의 평형 조건 : PR=QX(마주보는 변의 곱
|
|
|
A.C. bridge)
임피던스의 값이나 주파수를 정확하게 측정할 수 있는 브리지회로이다. 측정 대상에 따라 여러 종류가 있으며, 교류브리지는 위상과 크기라는 2개의 양(量)이 평형을 이루지 않으면 검출기가 0을 지시하지 않는다. 따라서 직류브리
|
|
|
력이 생기면서 실제적인 유효전력이 결정되는 특성을 가지고 있습니다.
2.개요
- 실험 목적
(1) 저항소자를 포함하고 있는 교류 소자와의 직,병렬 회로에서 회로의 임피던스를 측정하고 임피던스의 삼각형 및 위상각의 개념을 이해한다.
(2) 교
|
|
|
회로
함수발생기를 사용하여 그림 25.1과 같이 회로를 연결 한다.
함수발생기의 진동수를 100 Hz에 고정시키고 인가 기전력을 0V부터 5V까지 1V간격으로 바꾸면서 회로의 전류를 측정한다.
전류와 기전력과의 관계 그래프를 그리고 기울기를ㄹ 구
|
|
|
전류
오 차
측 정 값
이 론 값
=100Ω
3.42mA
3.41mA
0.29%
=220Ω
2.86mA
2.85mA
0.35%
=240Ω
2.77mA
2.77mA
0%
=4.7kΩ
0.40mA
0.40mA
0%
→ 표 4와 표 5를 비교하였을 때 측정값과 Norton 회로로 재구성한 후의 이론값이 매우 정확하게 일치함을 확인할 수 있다.
■ 토의
T
|
|
|
측정할 수 없었다. 그리고 <표9-2>의 실험 값과 측정값이 다르게 나온 것은 정확한 Rt 값을 측정하지 못하였기 때문에 약간의 오차가 발생한 것으로 생각된다.
이 실험에서 직렬회로를 연결하여 측정한 실험이었기 때문에 저항값은 Rt=R1+R2+R
|
|
|
회로의 저항값을 측정하는 실험이여서, 주된 실험이 저항값을 측정하는 것이였기 때문에 전류가 잘 측정되지 않는 우리는 7장 실험보다 먼저 하였다.
실험을 통해 직렬회로의 총 저항은 각 저항의 합을 모두 합한 것임을 알 수 있었는데 병렬
|
|
|
측정할시 증폭기의 폐회로이득이 1인상태에서 측정해야 하므로 결국 전압이득을 제한하는 것이다.
5. 그림 27-1의 회로에서 출력전압이 0.5㎲내에 +5V로부터 -10V로 스윙하면 슬루율은 얼마인가?
(a) 5V/㎲ (b) 15V/㎲(c) 20V㎲(d) 30V㎲
⇒ Slew rate=ΔV/Δt=1
|
|
|
측정 연결(Measurement Connection)
계측기를 피측정체에 연결할 때는 라인 손실과 부하의 영향을 고려하여야 한다. 언제나 피측정체의 전기적 회로 특성은 계측기와의 연결로 인해 영향을 받게 마련이다. 보다 정확한 측정을 위해서 부하는 다른 요
|
|
메뉴펼치기
