AFM을 통한 표면분석

목차

1. Definition of AFM

2. Principle of AFM

3. Atomic force

4. Measurement types of AFM
Contact mode
Non-contact mode
Tapping mode

5. Advantage & disadvantage of AFM

6. Examples of surface characterization with AFM
Self-assembled 1,4-dithiane on gold surface
Thiomacrocyclic ionophore (LB film)

7.Biological application

8.Conclusions

본문내용

1. Definition of AFM
AFM( Atomic force microscope)
:원자간력 현미경이란 뜻으로 원자와 원자의 반발력과 인력을 이용하여 표면을 관찰
STM(Scanning Tunneling Microcopy)이 실험조건이 까다롭고 도체만 관찰할 수 있다는 문제점 해결
"AFM"에서는 STM과는 달리 텅스텐 또는 백금으로된 탐침대신 나노기술로 제조된 프로브를 사용하는데 이 프로브는 프로브의 모판(substrate) 끝에 아주 미세한 힘(나노뉴톤)에서 쉽게 휘어지는 판형 스프링(cantilever) 끝에 원자 몇 개 정도의 크기로 끝이 가공된 탐침(tip)을 붙였다. 이 프로브 탐침의 끝을 샘플 표면에 근접시키면 아래그림 과같이 끌어당기는 또는 밀어 내는 여러 가지 힘(힘의 특성은 아래의 표 참고)이 샘플표면의 원자와 탐침끝의 원자사이에 작용하는데 이 힘에 의해 캔티레버의 휨이 발생하고 이 힘이 일정하게 유지되도록 하면서 귀환회로에 의해 정밀 제어 하면서 각 지점(x, y)에서 스캐너의 수직위치를 저장하여 샘플표면의 삼차원 영상을 얻을 수 있는 원리로서 아래와 같은 몇 가지 다른 모드가 있다.

키워드

AFM,   나노기술,   나노기술입문,   표면분석,   surface characterization