BIST(Built-in Self-test)
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소개글

BIST(Built-in Self-test)에 대한 보고서 자료입니다.

목차

1. 연구 진행 내용
2. 연구 진행 계획
3. 참고 문헌

본문내용

신호인 ramp 신호를 generation 하기위해 간단한 generator를 구현하고 있다. 다음은 timer를 이용한 ramp generator 이다.
2. 연구 진행 계획
sigma-delata ADC에서 사용되고 있는 digital filter의 분석이 끝나면 그것을 토대로 하여 개선하고자 하는 digital filter의 설계에 들어갈 것이다. 먼저 VerilogHDL과 같은 program을 사용하여 설계하고 simulation을 통해 교정 작업을 거칠 것이다.
digital filter의 설계에 약 1달 가까이 소요될 것으로 예상되고 나머지 기간동안 simulation과 error detecting에 투자할 것이다. 만일 filter의 설계가 빨리 끝나지 않는다면 simulation의 횟수가 줄어들 수도 있다. 반대로 시간이 허용이 된다면 보다 많은 error signal을 generation 하여 fault detecting과 calibration의 성능을 test 해볼 것이다.
3. 참고문헌
[1] Adel S. Sedra and Kenneth C. Smith "Microelectronic Circuit" fourth edition. OXFORD UNIVERSITY PRESS 1998
[2] Samir S. Solriman and Mandyam D Srinath "Continuous and Discrete Signals and Systems" second edition. Prentice Hall 1998
[3] Alan V. Oppenheim and Alan S. Willsky and S. Hamid Nawab "Signals & Systems" second edition. Prentice Hall
[4] H. E. Weste "Principles of CMOS VLSI design A systems perspective". Addison Wesley
[5] 한건희 “전자회로”. 교보문고
[6] Michael Shoi and Asad A. Abidi "A 6-b 1.3-Gsample/s A/D Converter in 0.35㎛ CMOS". IEEE journal of solid-state circuit, vol 36, NO 12, December 2001
[7] Hui Pan, Masahiro Segami, Michael Choi, Jing Cao, and Asad A. Abidi "A 3.3-V 12-b 50-MS/s A/D Converter in 0.6㎛ COMS with over 80-dB SFDR". IEEE journal of solid-state circuit, vol 35, NO 12, December 2000
[8] Kwang Young Kim, Naoya Kusayanagi, and Asad A. Abidi "A 10-b. 100-MS/s CMOS A/D Converter". IEEE journal of solid-state circuit, vol 32, NO 3, March 1997
[9] Micael F. Toner, Gordon W Robert "A BIST Scheme for a SNR, Gain Tracking, and Frequency Response Test of a Sigma-Delta ADC". IEEE transaction on circuit and system-Ⅱ: Analog and Digital, Processing Vol 42. NO 1. January 1995
[10] M. F. Toner and G. W. Roberts "A BIST Technique for a Frequency Response and Intermodulation Distortion Test of a Sigma-Delta ADC"
[11] M. F. Toner and G, W. Roberts "A BIST Scheme for an SNR Test of a Sigma-Delta ADC"
[12] John Kornbium "Inter Sigma-Delta Calibration Technique". intersil May 1995
[13] M. Renovell, F. Azis, S. Bernard and Y. Bertrand "Hardware Resource Minimization for Histogram-Based ADC BIST"
[14] M. Renovell, F. Azis, S. Bernard and Y. Bertrand "Analog BIST generator for ADC testing"
[15] Jing Wang, Edgar Sanchez-Sinencio and Franco Maloberti "Very Linear Ramp-generator for High Resolution ADC BIST and Calibration"
[16] 김기철 연세대학교 기계전자공학부 “A/D 변환기의 BIST(Built-In Self Test) 연구”
[17] Benoit Provost and Edgar Sanchez-Sinencio "On-chip Ramp Generator for Mixed-Signal BIST and ADC Self-Test". IEEE journal of solid-state circuit, vol 38, NO 2, December 2003
[18] S. Bernard, F.Azais, Y. Bertrand and M. Renovell "A High Accuracy Triangle-Wave Signal Generator for On-Chip ADC Testing"
[19] Colin Kuskie, Bo Zhang and Richard Schreier "A Decimation Filter Architecture for ㎓ Delta-Sigma Modulators"
[20] J. Robert "Monotonic-Based Digital Filter For 1st-Order sigma-delta Modulator". ELECTRONICS LETTERS 6th July 1989 Vol. 25 No. 14
13th March 1989

키워드

BIST,   BISC,   프로그램,   연구,   ADC
  • 가격2,000
  • 페이지수12페이지
  • 등록일2008.06.13
  • 저작시기2011.10
  • 파일형식한글(hwp)
  • 자료번호#469434
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