[공업분석화학] Scanning Tunneling Microscopy(STM)

소개글

[공업분석화학] Scanning Tunneling Microscopy(STM)에 대한 보고서 자료입니다.

목차

Ⅰ Introduction
Ⅱ Theory (양자 터널링 현상)
Ⅲ Principle
Ⅳ STM의 장점 및 주의점
Ⅴ 다른 기기와의 비교분석
Ⅵ 참고문헌

본문내용

야 한다는 점이다.
Ⅴ 다른 기기와의 비교분석
탐침형 원자 현미경(scanning probe microscope ;SPM)이란 다양한 방식의 탐침(probe)으로 시료의 표면을 스캔하여 원자 지름의 수십 분의 1인 0.01나노미터(nm) 수준까지 측정할 수 있는 제3세대 현미경이다. 광학 현미경 : 빛의 굴절을 이용하여 생물의 조직이나 미세한 세균 따위를 확대하여 관찰하는 장치. 유리로 만든 대물렌즈와 접안렌즈를 쓴다.
광학 현미경이 최고 수천 배, 전자 현미경 전자 현미경 : 전기장 또는 자기장을 이용하여 전자류를 전자 렌즈에 집속시켜, 그 통로에 놓인 시료(試料)의 상(像)을 확대하는 장치. 광학 현미경보다 훨씬 뛰어난 분해 능력을 가진다.
이 수십만 배의 배율인 데 비해 원자 현미경은 수천만 배급이며, 3차원의 이미지를 얻을 수 있을 뿐만 아니라 표면의 점탄성 : 물체에 힘을 가했을 때 액체로서의 성질과 고체로서의 성질이 동시에 나타나는 현상
점탄성, 경도 등의 특성을 측정할 수 있고, 탐침을 이용해 시료를 직접 조작하여 나노미터의 물체를 제조하는 등 나노 산업의 핵심 장치이다. SPM에는 STM(scanning tunneling microscope)과 AFM(Atomic Force Microscope)이 있다.
[그림6] AFM의 구조도
AFM과 STM을 비교해보면 AFM 즉, 원자간력현미경은 주사 터널링 현미경(STM)에서는 전기 도체표면의 원자 상에서 밖에 측정할 수 없었기 때문에 이를 보안하기 위해 고안된 장치이다. 절연물의 미세한 탐침을 절연물 표면에 원자의 크기까지 근접시키면 양자의 원자 간에 힘이 작용하게 되는데 이 때 탐침을 캔틸레버(Cantilever ; 외팔보)의 끝에 매달아 놓고, 캔틸레버의 도중에 도전체의 작은 바늘을 달아 터널전류를 측정하든가, 광연자(光挻子)의 반사광의 편향을 검출하여 원자 간의 힘을 측정하여 표면의 원자 상을 측정한다. AFM 역시 STM과 함께 급속하게 응용범위가 넓어지고 있다.
Ⅵ 참고문헌
OXFORD Instruments
beginnighouse
nanofriends
Daum 백과사전
Naver 백과사전
위키 백과
google 검색엔진
동아대학교 신소재물리학과 김정화 교수

키워드

STM,   양자 터널링 현상,   공업분석화학,   비교분석,   STM의 장점,   양자 터널링,   Scanning Tunneling Microscopy,   STM의 주의점