XRD 재료분석 실험

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XRD 재료분석 실험에 대한 보고서 자료입니다.

본문내용

5872%
즉 38.10 와 44.28 의 2θ값으로 측정되었어야한다.
4. 오차의 원인
이번 실험의 오차는 1%내외로 매우 작다. 따라서 매우 잘 된 실험이지만 오차의 원인을 생각해본다면,
- XRD장치를 사용하는 도중 외부의 파동이 중첩되어 파장에 영향을 주었을 수 있다.
- 온도에 따라 변하는 은의 구조 혹은 a, d의 값에 대해서 고려를 하지 않았다.
- XRD장치가 노후하여 기계적 오차가 발생하였다.
- 각도의 변화량 step이 충분히 작지 못했다.
등의 요인등을 생각해 볼 수 있다.
5. hkl의 mix 유무에 따른 비교
I(intensity) 는 F(structure factor)2에 비례한다. 따라서 이 경우에 mixed 와 unmixed의 경우 각각의 F를 구해보자
in FCC structure
이때 exp(nπi)=(-1)n이므로
mixed의 경우 (h+l),(h+k),(k+l) 중 2가지는 홀수, 1가지는 짝수이므로 F=0 이 되고 따라서 피크가 존재하지 않으며, unmixed의 경우는 (h+l),(h+k),(k+l) 모두 짝수이므로 F=4fa 가 되고 피크가 존재할 수 있다.
6. 참고문헌
재료결정학, 2013, 이정용, 정문각

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XRD 재료 분석 실험,   XRD장치,   XRD