현미경예비레포트

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의 뒤에 지연판과 편광판을 놓으면 재료의 편광성과 굴절성을 명암과 색의 차이로 관찰한다. 편광판의 회전에 대해 결정 등은 선과 색으로 관찰된다.바. 형광현미경(fluorescece microscope) 형광현미경은 시료에서 발산하는 형광을 관찰하는 현미경이다.
형광이라는 것은 관찰하고자 하는 시료에 빛이 닿았을 때 시료에서 발산하는 빛을 말하는 것으로, 대부분의 경우 빛이 미약하기 때문에 시료에 닿는 빛이 형광을 방해하여 보이지 않게 하기 위한 방안이 마련되어있다. 형광 현미경에서는 사전에 광원에서 나오는 빛의 파장을 특정한 방법을 통하여 제한하고, 어느 특정의 파장만을 시료에 닿을 수 있도록 하고 있다. 만약 관찰시료에 그 파장의 빛을 받으면 빛을 내는 물질을 포함하고 있으면, 시료에서 나오는 형광을 현미경으로 관찰할 수 있다.
2. 전자현미경(EM, Electron Microscope) : 전자현미경에서는 광학현미경과는 달리 유리렌즈 대신에 자계렌즈(마그네틱 렌즈)를 이용하고, 광원은 가시광선 대신에 파장이 짧은 전자를 이용하였다. 따라서 전자현미경에서는 컬러 상을 관찰할 수 없고 흑백 상을 관찰하게 된다.
※투과형전자현미경(TEM)
대상 시료에 전자선을 쏘여 전자선이 통과해서 나온 전자를 확대하여 관찰하는 현미경을 TEM이라고 할 수 있다. 대상의 구조와 구성성분의 차이에 따라 어느 정도의 전자선을 투과시키는가가 다르기 때문에 위치에 따라 투과되어 나온 전자의 밀도가 다르고, 이 밀도의 변화가 현미경의 상이 된다.
※주사형전자현미경(SEM)
관찰대상에 전자선을 쏘여 시료에서 반사되어 나온 전자에서 얻어지는 상을 관찰하는 현미경이다. 주사선의 명칭은 대상에 전자선을 쏘여서 위치를 조금씩 이동하며 Scan(주사)하면서 현미경상을 만들어 나가는 것에서 명명되었다고 생각하시면 된다. 전자는 검출기에 모여져 컴퓨터를 이용하여 2차원의 상을 표시한다. 대상 표면의 형상과 요철의 모양, 비교적 표면에 가까운 부분의 내부구조를 관찰 할 수 특성이 아주 우수하다.
3. 원자현미경(AFM, SPM) : 원자나 분자단위의 미세한 나노세계는 이전에는 볼 수 없는 영역이었으나 1980년대에 발명된 원자현미경(SPM)으로 제3세대의 현미경의 시대가 열렸다. 원자현미경의 효시는 STM이며 가장 널리 쓰이는 원자현미경은 AFM이다.
SPM은 Scanning Probe Microscope의 약자로서 물질의 표면특성을 원자단위까지 측정할 수 있는 새로운 개념의 현미경을 총칭하는 말이다. 광학현미경의 배율이 최고 수천 배 전자현미경(SEM)의 배율이 최고 수십 만 배인데 비해 원자현미경의 배율은 최고 수천만 배로서 원자 지름의 수십 분의 1까지 측정할 수 있다.
출처:
네이버 백과사전
www.microscope.wo.to
http://blog.naver.com/nurian/50016479145
http://blog.daum.net/harujongil/13020438
http://www.ajotrade.co.kr/product/main1.htm

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