x선 회절 결정구조분석

소개글

x선 회절 결정구조분석에 대한 보고서 자료입니다.

목차

1.전자현미경과 종류

2.x선의 원리및 종류

3.x선으로 결정구조 측정

본문내용

에서 Electric signal로 변환된다.
그리고 이 Signal은 Preamplifier에서 증폭되어 CRT에서 발광한다.
CRT에서의 Electron beam scanning과 Specimen에서의 Beam scanning은 Syncronized되어 있기 때문에 Specimen에서scanning된 이미지가 CRT상에 동일하게 표현이 된다.
TEM (Transmission Electron Microscope)
투과전자현미경은 광학현미경의 원리와 기본적으로 같지만 빛(light)대신 전자선(electron beam)을 사용하고 유리렌즈 대신에 철심과 구리코일(coil)로 만든 원통형의 전자렌즈(magnetic lens)를 사용한다. 전자 발생을 위해서 경통 윗의 전자총(electron gun)에서 텅스텐 필라멘트를 고압(약 50kv ~ 100kv)으로 가열시키면 전자가 생성되어 그 밑에 위치한 양극(anode)의 중앙에 있는 구멍을 통과하여 집속렌즈(condenser lens)에 도달하게 되며 이때 전자선의 파장은 100kv일때 약 0.0037nm로서 분해능을 높일 수 있다.
AFM (Atomic Force Microscope)
원자현미경의 한 종류인 AFM은 Atomic Force Microscope의 약자로 날카로운 탐침(Tip)이 시료표면에 수A(1A=10-10m) 이내로 접근할 때 작용하는 원자력에 의한 캔틸리버의 굽힘을 측정하여 피드백 제어함으로써 표면의 3차원 이미지를 얻는 초정밀 장치이다. 기존의 STM(Scanning Tunneling Microscope)은 시료와 탐침 사이에 전압을 건 상태에서 작동하므로 그 적용대상이 도체에 한정된 데 반해 AFM은 시료의 전기적인 특성과 무관하므로 도체, 반도체 및 부도체등 모든 시료의 분석에 범용적으로 적용되고 있다.
그 외 전자 현미경들
탐침원자현미경의 종류로는 전자의 터털링(Tunneling) 현상을 이용한 STM과 원자간의 Van Der Waals Force를 이용한 AFM, Magnetic Force를 이용한 MFM 등 다양한 SPM 계열이 있으며 시료의 Topography, spectroscopy, surface friction, surface adhesion 등의 분석장비로써 주로 연구되고 상용되어 왔다. 최근에는 이를 이용한 응용분야가 물리학과 반도체 공정은 물론이거니와 생물학 분야에 이르기까지 점차적으로 확대되고 있다.
<그림5. TEM 구조> <그림6.SEM구조>
3. 결론
① 텅스텐-BCC
측정된 2θ값에서 2를 나눈뒤 180으로 나눈후 파이값으로 나누어 Radian으로 변환한후 sin제곱근을 해준 값에서 초기 값으로 나누어 기준을 초기값 1로 만든다. 2배를 해줌으로써 적당한 정수배가 되로록 나열을 하면 S값이 나열 되는데 2,8,10 등으로 나열되어 BCC의 특성값인 h+k+L=S값으로 (110) (200) (211) (220)등이 S값의 2,4,6,8,10의 값에 나타나게 되어 BCC임을 알수 있다. S값의 1/2제곱근 값에 측정된 d(면간 거리)값을

키워드

x선,   전자현미경,   stm,   tem,   bcc,   경정구조,   측정