목차
기본단위
Counter : 펄스형 검출기
Dosimeter : 전류형 검출기
조사선량 측정
흡수선량 측정
GM tube
비례계수관(Proportional Counter)
Scintillation 검출기
반도체 검출기(Semiconductor Detector)
절대측정
개인피폭선량 측정
Surveymeter
선량교정
통계
Counter : 펄스형 검출기
Dosimeter : 전류형 검출기
조사선량 측정
흡수선량 측정
GM tube
비례계수관(Proportional Counter)
Scintillation 검출기
반도체 검출기(Semiconductor Detector)
절대측정
개인피폭선량 측정
Surveymeter
선량교정
통계
본문내용
수기
3He비례계수관
rem counter
표면오염밀도 측정법
Smear법 : 여과지로 닦아 측정, 완전채집은 불가능
유리성 오염 계측
survey법 : 표면오염을 서베이메터로 측정
유리성 및 고착성 오염도 계측
선량교정
치환법
가장 일반적
같은 위치에 교대로 측정
Monitor법
치환법의 오차보정
monitor는 교정X 되지만 직성성, 안정성 좋아야 함
동시조사법
기준선량계와 교정선량계의 감도가 비슷한 경우
heel effect는 고려해야함
거리,시간차법
표준선량계과 교정선량계의 감도가 다른 경우
감도가 높은 선량계를 멀리
surveymeter교정에 이용
통계
한번 측정값이 N일 경우
평균 :
표준편차 :
계수치 :
n번 측정값의 합이 N일 경우
평균 :
표준편차 :
측정값의 연산
평균은 그냥 더하고 뺀다
표준편차는 무조건
→ 큰거보단 크고 둘 합친거보단 작다
상대오차RE
계수치의 상대오차
계수율의 상대오차
분포
정규분포(Gauss distribution)
이항분포(Binominal) : 두가지 가능성 가진 사건 반복
푸아송분포 : 희귀하게 일어나는 사건
발생확률
평균 ± 1σ : 68%
평균 ± 2σ : 95%
평균 ± 3σ : 98%
3He비례계수관
rem counter
표면오염밀도 측정법
Smear법 : 여과지로 닦아 측정, 완전채집은 불가능
유리성 오염 계측
survey법 : 표면오염을 서베이메터로 측정
유리성 및 고착성 오염도 계측
선량교정
치환법
가장 일반적
같은 위치에 교대로 측정
Monitor법
치환법의 오차보정
monitor는 교정X 되지만 직성성, 안정성 좋아야 함
동시조사법
기준선량계와 교정선량계의 감도가 비슷한 경우
heel effect는 고려해야함
거리,시간차법
표준선량계과 교정선량계의 감도가 다른 경우
감도가 높은 선량계를 멀리
surveymeter교정에 이용
통계
한번 측정값이 N일 경우
평균 :
표준편차 :
계수치 :
n번 측정값의 합이 N일 경우
평균 :
표준편차 :
측정값의 연산
평균은 그냥 더하고 뺀다
표준편차는 무조건
→ 큰거보단 크고 둘 합친거보단 작다
상대오차RE
계수치의 상대오차
계수율의 상대오차
분포
정규분포(Gauss distribution)
이항분포(Binominal) : 두가지 가능성 가진 사건 반복
푸아송분포 : 희귀하게 일어나는 사건
발생확률
평균 ± 1σ : 68%
평균 ± 2σ : 95%
평균 ± 3σ : 98%
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