|
저항소자가 아니더라도 저항을 띄는 물체를 연결할 수도 있다. 예를 들어, 스트레인게이지를 X로 사용하여 물체의 변형을 측정할 수 있다. 이를 응용하여 몸무게를 측정하는 전자저울을 만들 수 있다. 1. 실험 제목
2. 실험 목적
3. 실험
|
|
|
것은 이런 브릿지들은 고장 원인이나 또는 미지의 저항을 측정할수 있는 가장 유용한 회로라는 것을 간접적으로 나마 느끼고 알게 된 것 같아서 한편의 수확을 거둘수 있었던 것 같다. 브리지회로 실험보고서 목적 실험장비
목차 없음
|
|
|
측정시 테스터로 저항이나 전압 측정시 테스터봉과의 접촉저항이 매번 다 르기 때문인다. 그리고 실험실 온도변화 및 손으로 만질 때 저항의 온도 가 변해서 생기는 저항의 온도계수에 의한 저항값 변경하기 때문이다
실험－2 결과 Report
선팽
|
|
|
실험을 진행하며 가장 흔하게 사용하는 금속 소재의 인장, 압축시에 재료 내부에 어떤 변화가 생기는지에 대해서 확인 할 수 있어 좋았다. 또한 전기전자 시간에 배운 휘트스톤 브릿지가 어떻게 적용되는지 실제로 확인 할 수 있는 기회였다.&
|
|
|
화면조정과 전원부
수직 증폭부
소인과 동기부
표준위치 조정
2. 검류계의 내부 저항 측정
다르송발계기
전류계
전압계
(1)계산을 통한 전류계의 내부 저항 측정
(2)휘트스톤 브리지를 이용한 검류계의 저항 측정
|
|
|
브릿지나, 전선, 측정 장치 내부의 여러 가지 저항에 의해서 영향을 받을 수 있다. 그러므로 실험전 충분한 켈리브레이션이 필요하다. 반복되는 실험에 의한 빔 자체가 이미 많이 변형되어 있을 수도 있으므로 주의가 필요하다.
아니면 센서가
|
|
|
실험의 브릿지 회로는 양단에 걸리는 전압이 같다
중간에 연결된 저항 양단의 전위차가 0이 되어 흐르지 않게 된다.
아래쪽의 저항 하나를 센서로 바꿔 응용을 할 수 있다.
하나의 저항값이 바뀌게 되면 중간에 연결된 저항에 전류가 흐르게
|
|
|
브릿지 회로
브릿지 회로에서 각 저항을 지나는 전류의 값을 측정하여 보았다. 즉 두 병렬 노드사이의 전압이 0일때, R4에서는 1mA, R2에서는 1.1mA, R1에서는 1.1mA였다. 따라서 R3의 포텐셜미터의 값은 3.3킬로옴이 되어야 한다. 실험에서는 3.29킬로
|
|
|
저항값의 측정기기의 해상도에 따라 좀더 세밀한 측정을 할 수 있으며, 재료의 각 부위에 부착하여 전체적인 변화를 관찰할수도 있다. 하지만 재료 내부의 Strain값을 측정하지 못하는 단점 또한 가지고 있다. 1. 실험 목적
1-1 서론
1-2 목적
|
|
|
실험방법
①열전대를 AD595와 연결시킨다.
②AD595를 컴퓨터와 연결시켜 LabView를 킨다.
③알코올램프를 사용하여 철판과 연결되어있는 부분과 조금 떨어진 부분을 가열한다.
④가열을 하면서 변화하는 온도를 초의 시간 간격을 두고 측정을 한
|
|
메뉴펼치기
