|
광림사
7. http://www.buy3a.com/x7.htm
8. http://www.mulinara.net/physics/wave/atom/k11.html
9. http://www.threei.co.kr/~dushin/Physics/optics/exp08/exp08.htm Ⅰ. 실험제목
Ⅱ. 실험 날짜
Ⅲ. 실험 목적
Ⅳ실험 이론
Ⅴ.기구 및 장치
Ⅵ. 실험 방법
Ⅶ. 예비고찰
|
|
|
② 오실로 스코프의 기능과 활용
③ 신호 발생기
④ 신호발생기의 기능과 활용
신호와 잡음
1. 실험 목적
2. 전자회로와 잡음
-잡음이란??
-잡음의 종류
-잡음에 대한 규제
※전기 잡음에 대한 대책
- 차폐
- 소자 이용
|
|
|
(TEM) 기법
Ⅱ. 본론
1. MOS Capacitor 제작 과정 및 비저항 측정
2. 산화 공정의 세부 절차
3. XRD를 통한 구조 분석
4. AFM을 이용한 표면 분석
5. SEM을 통한 미세 구조 관찰
6. 광학 현미경(OM)으로의 관찰
7. C-V 특성을 통한 전기적 분석
Ⅲ. 결론
|
|
|
일자로 완벽하게 올릴 수 없어서 조금씩 기울어졌고 로드셀에 균일한 하중을 가할 수 없었기 때문이다. 로드셀 안에 휘스톤 브리지의 중심에 무게중심이 있어야 정확히 측정이 된다.
로드셀을 주로 무게를 측정하는데 이용이 되는데,
|
|
|
저항을 측정할 수 있다. 저항이 50kΩ일 때 측정하면 브리지는 R1과 R2의 현재 값으로 평형이 될 수 없다.브리지가 평형을 이루려면 arms의 설정을 바꾸어야 한다.
5.참고문헌
*신회로이론 박송배 문전당
*기초회로 실측에 기초한 전자전기 실험
-
|
|
|
실험을 할 수 있었다. 이번 실험을 마지막으로 계절학기의 모든 실험을 끝마치며 공대인으로서의 소양을 다질수 있었던 좋은 기회였다고 생각한다. 전위선측정,
Ohm's Law,
Wheatstone-bridge에 의한 미지저항 측정
각 실험마다
▲ Purp
|
|
|
저항마다 오차의 허용 범위를 가
지고 있는데 그것이 각각 달랐고, 회로의 구성에서 저항과 저항을 연결하는 사이에 도선을 사용하였는데
그 도선에도 저항을 가지고 있었기 때문에 테스터기의 측정값과 실험으로 구해진 저항의 값에 차이가
|
|
|
ε을 진공의 유전율 ε0 (ε0 = 8.855 * F/m)로 나눈 값으로 정의된다. 즉,
x = ε/ε0 (12)
이다. 식 (11)과 (12)를 이용하면 평행판 축전기의 C, A, d를 측정함으로써 평행판 사이 물질의 ▶실험 목적
▶이론
▶실험 기구 및 장치
▶실험 방법
|
|
|
물리학실험 사례3(전기저항)
1. 실험 목적
2. 실험 장치 및 기구
3. 이론
1) 옴의 법칙
2) 다이오드의 특성
4. 분석 및 토의
Ⅳ. 물리학실험 사례4(운동법칙)
1. 제목
2. 목적
3. 실험방법
1) 컴퓨터
2) 실험장치
3) 측정
4) 데이터 처리
5)
|
|
|
실험을 통해 등전위선과 전기장과의 관계에 대해 이론적으로만 알고 있었던 부분을 한 층 더 고찰해 볼 수 있는 계기를 마련했다는데 실험의 의의가 있다고 볼 수 있다.
9. 참고문헌
-. 제목: 물리학실험 제 7판, 출판사: 아주대학교 출판부, 저
|
|
메뉴펼치기
