|
실험 과정 Pspice 회로구현
3. 실험 결과
표 37-2. 직병렬연결한 인덕터의 총인덕턴스 연결
Inductor
Voltage across
Inductor(s)
Voltage across
Resistor
Total Current in Circuit I, mA
Inductance L, mH
Total Inductance
, mH
1
467mV
7.9mV.
4
100
2
468mV
7.8mV
4
100
1 and 2 in series
832mV
7mV
4
|
|
|
(V)
입력전압
-VBC
출력전압
VDC
표 3. 모든 스위치를 닫았을 때.
측정전압
파 형
전압 첨두치
(Vp-p)
직류전압
(V)
입력전압
VAC
출력전압
VDC
II. 토의 사항 1. 목적
2. 이론
(1) 반파 정류회로 (half-wave rectifier circuit)
3. 실험기구
4. 실험 방법
|
|
|
실험을 통하여 느끼게 되었다.
*참조
구글 검색
네이버 이미지, 지식인
재료강도 시험법, 김엄기 외, 두양사, 2006
기계공학 실험, 금오공과대학교기계공학계열 저, 문운당, 1998
수업자료
실험 결과보고서
실험 제목 : 스트레인 게이지에 의한 변
|
|
|
회로기호
3. 실험기구
직류 전원 (6 V, 60 V, DC)
저항 (33 , 33 k , 2 W), 가변저항 (25 k , 2 W)
다이오우드 (1N100 [Ge diode], 1N914 [Si diode])
Multimeter (2 개)
4. 실험 방법
(1) 다이오우드의 순방향 전류-전압 특성
1) 그림 6의 회로를 만들되, Si 다이오우드를 사용
|
|
|
실험
(1) LED 구동원리와 용도
(2) 디지털 출력의 기능에 대한 조사
4. 백금측온센서를 이용한 온도계측실험
(1) 온도센서의 종류조사
(2) 브리지회로, 연산증폭회로
(3) AD컨버터, DA컨버터의 원리조사
5. 로드셀을 이영한 하중계측실험
|
|
|
실험방법
[ TTL 연결 방법 ]
[ NOT gate Test ]
[ EX-OR gate 구현하기 ]
[AND, OR, NOT gate 조합] [NAND 조합] [NOR 조합]
[EX-OR TEST]
결과보고서
실험번호
실험일시
( ) 분반 실험조( 조)
학번
성명
학번
성명
1. 각각의 TTL IC를 이용하여 Exclusive-OR gate를 구현하고 Tes
|
|
|
회로이다. 그림 1과 같은 회로에서 만약 A점과 B점 사이에 전위차가 없으면(? ? ? ? ?)
전류의 흐름을 감지할 수 있는 검류계(Galvanometer) ?에는 전류가 흐르지 않는다. 1. 실험목적
2. 실험 이론
3. 실험 장비
4. 실험 방법
5. 예상 결과
6. 참고
|
|
|
회로이다. 그림 1과 같은 회로에서 저항 ?에 표시된 ‘Current Marker’로 측정한 전위차가
없다면 전류의 흐름은 감지할 저항 ? 에는 전류가 흐르지 않는다. 즉 회로는 평형상태에 도달한다. 1. 실험 장비
2. 실험 내용 및 방법
3. 실험 결과
|
|
|
많이 배워야 하겠습니다.
끝으로 실험을 잘 할 수 있게 랩 실을 빌려주신 권 순 범 교수님 및 실험 설명과 실험의 도움을 주신 조 철 민 조교님께 감사의 말씀을 전합니다. 이상으로 보고서를 마칩니다. 지금까지 읽어주셔서 감사합니다.
|
|
|
전기저항이 갑자기
감소
실험 9 Detection/Protection Circuit 실험
◎ 결과 보고서
실험 1
1-3 : V=8V ,, I=V/R=4.7/19=0.25[A]
1-4 : 전류는 더 많이 흐르고 제너전압이 더 빨리 도달
특정 전류 3)을 확인 V=6V ,, 2V더 빨리 도달
D(4.7v)가 5V로 상승 ( 실험결과 )
2-3 : 시
|
|
메뉴펼치기
