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구형파를 인가한 후 =100, 20, 5인 각각의 경우에 대하여 D-E 양단의 전압 파형을 관찰하고 묘사하라.
(6) =1mH로 대치시킨 후 =100, 500, 1k인 각각의 경우에 대하여 E-F 양단의 전압 파형을 관찰하고 묘사하라.
5. 참고자료
- 기초전기전자공학실험 (교
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발생기의 주파수와 가변저항의 값을 변경하여 가변저항 값을 변경하였을 때 멀티미터계의 전류가 0이 되는 지점의 가변저항 값을 측정하여 Rx, Cx, Dx 값을 구할 수 있었다. 오차의 발생 원인으로는 가변저항 값을 조절 할 때 멀티미터의 0이 되
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언제나 전기를 다루는 실험은 정말 주의하며 실험해야한다는 것을 다시한번 되새기게 되었다. 1. 실험 제목
2. 실험 목적
3. 관련 이론
4. 실험기기 및 재료
5. 실험 실습 회로도와 실험 순서
6. 실험 결과
7. 검토 및 유의사항
8. 고 찰
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모양이 나왔다.
4. 레퍼런스
- 신회로이론 / 박송배 / 문운당 / p235 ∼ p249
- 회로이론(6th Edition) / William H.Hayt, Jr / Mc Graw Hill / p. 276 ∼ 278
- 회로이론 / James W.Nilsson / 한티미디어 / p.620∼621 1. 관련이론
2. 실험결과
3. 결론 및 토의
4. 레퍼런스
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회로를 흐르고 있는 전류의 변화에 의해 전자기유도로 생기는 역(逆)기전력의 비율을 나타내는 양.
C는 콘덴서(용량기 커페시터(capacitance))라고 한다. 단위는 ㎌(마이크로 페럿)이다.
콘덴서는 전류를 충전했다가 방전하는 역할을 한다.(콘덴서
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발생기의 주파수를 15㎐로 하고 두 주기 동안의 모양을 스케치한다.
▲함수발생기의 주파수가 30㎐일 때.
▲함수발생기의 주파수가 15㎐일 때.
4. 연습문제
다음 각 경우에 대한 Lissajous figure를 그려보아라.
1.
2.
3.
4.
참고문헌
전자실험공학 : 황
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몇 배가 되는 것을 이론으로는 대수롭지 않게 여겼는데 눈으로 직접 보니 신기했던 것 같다. 그리고 교수님!!! 에어컨쪽 분단 뒤에서2번째 줄 함수발생기 이상해요~!!!! 3.1 목적
3.2 해설
3.3 예비문제
3.5 실험분석
실험 후 느낀 점
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전자총을 가지고 따로 신호를 발생시키는 방법과 고속 전자스위치를 이용하여 두 개의 입력을 교대로 하여 신호를 발생시키는 방법이 있다.
참고문헌
전자실험공학 : 황수용, 안성수 공저 : 교학연구사
일반전자공학실험 : 김태중 저 : 상학
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실험한 적이 있는데 BUFFER는 일반적으로 신호의 증폭이나 BOUNCE 현상을 제거하기 위해 쓰인다. 따라서 위 회로에 쓰인 CMOS BUFFER또한 같은 이유이다. CMOS는 TTL에 비해 동적 안전성이 부족하다. 이 점을 보완하기 위한 것이다. 1. 실험 결과정리
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