|
류가 크게 영향을 받는 회로의 순서는
실험 ①회로 > 실험 ③회로 > 실험 ②회로
였다.
즉 실험 ①회로인 1개의 저항을 이용하는 BJT 바이어스 회로는 이론과 같이 트랜지스터의 β에 매우 민감한 의존성을 지닌다는 사실이 실험적으로 확인
|
|
|
<실험목적>
브릿지 정류기에서의 도통은 2개의 직렬 연결된 정류기가 교대로 도통되는 결과임을 확인한다.
입,출력 파형을 관찰하고 측정한다.
DC전압 출력과 리플에 대한 여파 회로의 효과를 측정한다. CH.9 브릿지 정류기 ( Bridge Rec
|
|
|
경우 (100배정도) 이미터전류는 트랜지스터의 β 에 영향을 받지 않고 트랜지스터를 바꿀 경우더라도 콜렉터 전류와 콜렉터 이미터간의 전압 또한 크게 변화가 없을 것인데 이러한 실험을 하지 않고 단순히 회로만 꾸며보고 살펴보았기 때문에
|
|
|
실험목적
CE 증폭기의 입출력 임피던스를 측정
CE 증폭기의 데시벨 증폭도를 측정 실험 15. 이미터 접지 증폭기의 임피던스, 전력 및 위상
실험목적
CE 증폭기 회로
입력 임피던스
출력 임피던스
전력이득
위상관계
By-pass Capacitor
|
|
|
실험의 여건상 제대로 Ib에 따른 각 region 별 콜렉터 특성을 살펴보고 비교할 수 없어서 아쉽다.
고정바이어스 실험과 전압분배기 바이어스 실험에서는 단순히 회로만 꾸며보고 그 특성을 살펴보았을 뿐 거기에 따른 트랜지스터별로 비교하거
|
|
|
결 실험: 두 개의 커패시터를 병렬로 연결한 회로를 설정한 후. 다시 한 번 측정 도구를 사용하여 전체 커패시턴스 및 전압을 측정한다.
2. 주파수에 따른 Xc의 변화 실험:
커패시터를 회로에 연결하고, Xc(커패시터의 리액턴스) 값을 주파수에
|
|
|
BJT와 같이 접합 전계효과 트랜지스터(JFET)은 차단, 포화, 선형의 세 가지 영역에서 동작한다. JFET의 물리적 특성과 JFET에 연결된 외부회로가 동작 영역을 결정한다. 이 실험에서는 JFET의 주어진 회로 규격들에 부합하여 선형 영역에서 동작하도
|
|
|
1. 실험 개요
- 연산 증폭기는 아날로그 회로에서 가장 널리 사용되는 회로이다. 일반적인 연산 증폭기는 차동 입력을 받아서 단일 출력을 내보낸다. 이 실험에서는 연산 증폭기의 전압 이득, 입력 저항, 출력 저항, 대역폭, 옵셋 전압, 슬루율
|
|
|
1. 실험 개요
- 연산 증폭기는 아날로그 회로에서 가장 널리 사용되는 회로이다. 일반적인 연산 증폭기는 차동 입력을 받아서 단일 출력을 내보낸다. 이 실험에서는 연산 증폭기의 전압 이득, 입력 저항, 출력 저항, 대역폭, 옵셋 전압, 슬루율
|
|
|
형의 왜곡 현상 관찰
1) 실험 회로 7-1 회로에서 입력 신호의 크기를 증가시켜 가면서 출력 파형을 관찰하라. 출력 신호의 왜곡이 없는 입력 신호와 출력 신호의 최대값을 측정하라.
2) 실험 방법 1)을 PSPICE로 시뮬레이션하고 실험 결과와 비교하
|
|
메뉴펼치기
