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실험결과
Range
db
velocity
D-delay
P-delay
측정깊이
A깊이
200
76
5920
0
31.96
90.6mm
B깊이
200
76
5920
0
30.01
85mm
C깊이
200
76
5920
0
35.31
100mm
D깊이
30
84
5920
0
25.27
4.5mm
E깊이
80
58
9000
0
4.243
14.55mm
Ⅶ. 결과분석
초음파탐상 시험법은 물체의 손상없이(비파괴) 내부
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실험 장치
Oscilloscope
<펄스리시버> <시편>
<횡파센서> <종파센서>
4.실험방법
재료를 준비한다.
횡파센서를 펄스리시버 뒤쪽에 TR(펄스반사법) 부분과 연결한다.
공기층을 없애기 위해 접촉 매질을 재료표면에 발라준다.
횡
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실험방법
1. 먼저 시편의 A, B, C, D, E의 부분의 길이를 측정한다.
2. 초음파 탐촉자를 A부분에 올려놓고 주파수를 맞추어서 길이를 잰다.
3. 그래프에 나온 데이터 값을 적는다.
4. 이와 같은 방법으로 B, C, D, E 부분을 초음파 탐상법으로 실험값을
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초음파탐상 음향방출학 개론 권호영 저| 골드(골드기술사) 2003
http://www.hanmilab.co.kr/neboard/Board.aspx
http://www.rectuson.com/pro/ae-1n.php
구글 사진 검색
그 외 네이버블로그 참고8 X-선 분석법
X-선 회절의 성질
SEM (주사전자현미경・Scanning Ele
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실험실습과제
STB-A1의 R 100면을 사용해서 MWB4S 45°의 입사점을 측정한다.
3) 실험기기
① 초음파탐상기
② 사각탐촉자 ( MWB4S 45° 등)
③ 표준시험편 : STB-A1
(4) 실험실습순서
① STB-A1 의 R 100의 중심 부근에서 탐촉자를 놓고, R100 면을 향해서, R 100
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고체광원 조명기술 장우진 외 지음 | 아진(김근배)
[3] PSPICE를 이용한 회로설계 기초와 응용 백동철 지음 | 복두출판사
[4] 적외선으로 움직이는 PIC Robot 박동기 지음 | OHM사
[5] Basic Electric Circuit Analysis, David E.Johnson | Prentice Hall
[6] Electronic Devices
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실험
63
촉매화학
30
분자분광학
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생화학
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