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회로가 안정적이지 않았으며 함수발생기 Vin 또한 계속해서 변경되었다.
3 Pre-Lab(예비실험): 실험 절차
- DMM을 이용하여 실험에 필요한 소자를 모두 측정한다.
- 트랜지스터를 이용하여 회로를 구성한다.
- 회로에 부분적인 전압, 전류를 측정한
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실험): 실험 절차
- DMM을 이용하여 실험에 필요한 소자를 모두 측정한다.
- LM741CN와 저항, 오실로스코프, 함수발생기, 보드선도를 이용하여 회로를 구성한다.
- 회로를 오실로스코프, 보드선도를 이용하여 측정한다
- 완성된 회로를 조금씩 변
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회로 시대
프로그래밍언어
<저급언어>①기계어②어셈블리어
<프로그래머를 위한 고급언어>①절차지향 언어②객차지향 언어
<비절차어>
<함수언어,논리언어>
<비주얼언어> 컴퓨터의 변천사
1. 컴퓨터산업의 제1세
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실험): 실험 절차
- DMM을 이용하여 실험에 필요한 소자를 모두 측정한다.
- 다이오드와 저항, 오실로스코프, 함수발생기를 이용하여 회로를 구성한다.
- 회로에 부분적인 전압, 전류를 측정한다 (전류 측정간 주의 할 것)
- 완성된 회로를 조금씩
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실험의 회로는 “연산교류적분기”의 회로로써, 입력오프셋 전압과 입력오프셋 전류의 영향으로 인해 출력전압이 포화될수 있으므로 이러한 직류 성분에 대해 이득을 제한한다. 미분기
-연산증폭기를 사용한 미분기의 간단한 회로-이상
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회로로 구성. 입력단자:1,2,4,5,9,10,12,13번, 출력단자:3,6,8,11번.
*74LS02: 4개의 NOR회로로 구성. 입력단자:2,3,5,6,8,9,11,12번, 출력단자:1,4,10,13번
*74LS86: 4개의 XOR게이트로 구성. 입출력단자는 74LS00과 동일하다.
3. 실험 준비물
디지털 멀티미터(HP 34401A) 1
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실험 결과
실험 전제)
1> 주파수 발생기로 P-P 5V의 톱니 파형을 입력신호로 하였다.
2> HI 입력은 DC로 5V를 입력신호로 하였다.
3> 출력 CHECK는 오실로스코프와 디지탈 멀티미터를 이용하였다.
4> 회로의 구성은 Simulation의 회로와 같은 형
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논리와, 이와 반대로 높은 전압을 0, 낮은 전압을 1로 해석하는 부논리로 각각 해석하여 각 게이트의 논리동작을 아래 표에 기록하여라.
게이트
논리해석
7400
7402
7408
7432
정논리
NAND
NOR
AND
OR
부논리
AND
OR
NAND
NOR
■ AND연산 에서 입출력 신호를 그
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htm) 함수발생기 설명,사용법 (http://blog.naver.com/
egg3063?Redirect=Log&logNo=60010956184) 파워서플라이 출력전압 비교그림 ( 2학년 기초회로실험책 15Page ) ,
그림-1과 그림-2과 사용법 (http://cie.chungju.ac.kr/ymchae/dcp.html)
오실로스코프 사용법 ( http://blog.nave
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실험을 통해서 배운 점은 우선 회로시험기와 함수발생기가 어느 용도로 사용되는지 이다. 이전까진 회로시험기, 함수발생기라는 용어 자체를 들어본 적 없었다. 하지만 예비리포트를 작성하며 그리고 교수님의 설명을 들으며, 회로시험기는
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