|
실험값의 오차는 4%가 발생하였다. 오차가 발생한 원인으로는 실험에서 사용한 유리의 굴절률이 정확하게 측정 되었는지 알 수가 없고, 또한 Power meter로 빛의 세기를 측정함에 있어서, 순수한 레이져의 세기 + 외부에서 작용한 빛(어두운 곳에
|
|
|
실험
“속도 = 거리/시간” 이다. 실험에서 구한 데이터를 적용시켜 보면 “속도 = 20m / 100ns” 이므로, 광섬유 내에서의 속도는 약 2 x 108 m/s 로 생각해 볼 수 있다.
- 반도체 레이저 빛을 이용한 에돌이 발의 간섭 측정 실험
마지막 실험에서는
|
|
|
실험은 완전한 암실에서 진행하지 않았기 때문에 컴퓨터에서 나오는 빛이나 햇빛이 실험의 오차 원인으로 작용했기 때문이라고 볼 수 있다. 브루스터각의 이론값은 수식 4에서 을 대입하여 나타낼 수 있다.
이때 은 공기의 굴절률이고 는 유
|
|
|
실험장치의 한계상 주기성은 확실하게 나타나지는 않지만 빛의 세기 변화추이로 볼 때 실험에서 사용한 레이저는 편광된 빛이라고 할수 있다. ⑤ 브루스터의 각 조사
실험 결과 반사각과 굴절각이 90o 를 이룰 때의 입사각, 즉 브루스터각은 (5
|
|
|
각이 증가함에 따라 반사율이 증가하고, TM 모드에서는 브루스터각 까지는 반사율이 감소하다가 그 이후부터 증가하는 것을 확인 할 수 있었다. TE 모드실험에서는 반사율 값이 잘 나온 편이었지만, TM 모드에서는 오차가 많이 발생한 것으로
|
|
 |
각이 계산된다.
제 4 장 결과 및 고찰
4.1 프리틸트각
본 실험은 수평배향제와 수직 배향제 혼합을 통한 프리틸트각 제어를 위한 실험이다. 고정 값인 배이킹 온도를 230로 일정하게 한 후 이온도에 따른 시간의 변화를 변동 값으로 하여 프리틸
|
|
|
실험 결과들에 대한 빈틈없는 설명을 해낼 것이다. 그러면 우리는 Droop을 일으키는 원인에 대한 도저히 해결되지 않는 의문의 답을 알게 될 것이다.
참고문헌
http://www.spectrum.ieee.org/semiconductors/optoelectronics/the-leds-dark-secret 제 1 장 서 론
|
|
 |
각합니다.
6) 본인의 반도체 관련 경험이나 학습 내용에 대해 말씀해 주세요.
대학에서 반도체 재료 및 공정 관련 전공을 수강하며, 특히 미세 공정과 패키징 기술에 대한 이해를 쌓았습니다. 또한 반도체 실험실 인턴십을 통해 웨이퍼 세정과
|
|
 |
각합니까?
큐알티는 반도체 평가 분야에서 선도적인 기술력을 갖춘 기업으로, 첨단 기술을 배우고 성장하기에 최적의 환경이라 생각해 지원했습니다. 저는 체계적이고 꼼꼼한 데이터 분석 능력을 갖추고 있으며, 대학 시절 반도체 공정 실험
|
|
 |
1.지원동기
<초략>........실험과목들에서 얻었던 흥미를 더해 제 적성에 가장 적합하다고 생각하게 되었습니다. 그리고 하이닉스 반도체에 공정기술 데이터 관리및분석에더큰발전에많은........<중략>
2.입사후의 희망업무 및 포부
|
|
 |
공정 관리와 개발을 통해 매그나칩반도체의 수익성에 기여하고 저 자신도 최고의 공정 전문가로 성장하고 싶습니다. * 아래의 각 항목에 대하여 상세히 기재
◈ 1. 성장과정 (학교생활)
◈ 2. 성격의 장단점
◈ 3. 지원동기 및 포부
|
|
 |
비전인 ‘국가과학기술의 뿌리를 책임지는 공공연구기관’의 일원으로서, 산업과 기초를 연결하는 실천형 연구인력이 되겠습니다. 한국기초과학지원연구원 [연구직] 첨단소재(전력반도체, 표면개질 등) 표면분석 자기소개서
|
|
메뉴펼치기
