|
열안정도를 나타낸 다는 것을 알 수
있었다.
- 위 실험에서는 4가지의 다른 증폭기를 다루었다 트랜지스터와 콜렉트간의 전압 이 많이 변화하는 회로일수록 증폭회로에서의 열안정도는 낮은 회로임을 확인 할 수 있었다 열안정도가 불안정한
|
|
|
공통이미터 전력증폭기의 동작과 특성을 설명하였다. 여기서는 증폭기의 Q점의 위치가 증폭기가 과구동되었을 때 출력신호에서 관찰되는 클리핑의 형태에 어떻게 영향을 주는가를 보여 주었다. Q점이 포화에 가깝다면 부(-)의 피크가 먼저 클
|
|
|
1. 목적 및 배경
2. 부품 및 사용기기
3. 유용한 공식
4. 실험절차
5. 결 론
6. 실험 단계별 회로도 및 입출력 파형
7. 실험 27의 데이터
|
|
|
기의 동작 특성과 전압이득에 영향을 주는 인자를 알아보는 것이었다. 실험과정에서 증폭기의 입력신호를 베이스단자에 가하지만 다른 증폭기와는 다르게 그 출력은 이미터 단자에서 얻는 특성을 확인하였다. 즉, 출력전압인 이미터 전압()
|
|
|
험은 주어진 조건에 맞게 차근차근 진행해야된다는 것을 다시한번 느꼈다.
4.과제 반전증폭기와 비반전증폭기를 사용하는 이유
(1).두 단자에 걸리는 전압은 같다.
(2).Op-Amp의 두 입력 단자의 Impedence는 대단히 크다
(3).Op-Amp로 흘러들어가는 전
|
|
메뉴펼치기
