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⊙ 실험목적
빛의 회절 현상을 이해하기 위해 격자상수를 알고 있는 회절격자를 이용하여 주어진 광원의 파장을 측정하고 이 광원을 사용하여 미지의 회절격자의 격자상수를 측정한다.
⊙ 이론
1) 회절격자(에돌이발) (1)
그림[1]에 나타
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수 있다.
5. 토의
이번 실험은 회절광 사이의 각거리를 통해 이미 주어진 광원파장, 회절격자상수를 측정하여 그 오차를 비교해 보는 실험이었는데 두 실험을 한번의 측정으로 모두 할 수 있어서 다른실험에 비해 비교적 빨리 끝낼 수 있었다.
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절선의 면간격과, 지수로 부터 구한 격자상수의 불일치
공존하는 불순물의 회절선이나 Kβ회절선의 오인.
각도표시가 잘못되는등 장치의 조정문제
백그라운드가 높음
시료에 의한 1차 X선의 흡수가 높고, 형광 X선의 영향이 크다.
슬릿, 덮개로
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이 벌어질까?
- 만약 격자상수가 광원의 파장보다 작다면 빛이 격자판을 통과하지 못할 것이다. 즉 격자 무늬를 관찰 할 수 없을 것이며. 빛의 파장 또한 측정할 수 없다.
4. 격자상수가 일반적인 원자크기 정도 되는 격자구조를 회절을 통해
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파장과 비교해도 됨)
- 저희 조는 이번 실험에서 뒤에 해당되는 주어진 격자상수의 값으로 파장을 계산하고 그리고 실제로 알려진 파장과 계산을 해보았습니다. 이때 계산에 사용된 수식은 한가지 이고 이때에 실험이론에 있는 것처럼 회절차
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이용한 나노 패턴 제작
1. 홀로그래픽 리소그래피(Holographic Lithography) 시스템 원리
2. 홀로그래픽 리소그래피(Holographic Lithography) 시스템 구성
3. 감광제(Photoresist) 도포 조건의 도포 두께에 대한 영향 및 최적화
4. 노광시간(Exposure Time)의 영향
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