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터널링 디바이스 및
자연현상에서의의 터널링
Report
과목: 재료현대물리
담당교수: 김남철 교수님
학번:
이름:
제출일: 4월 28일 -주사터널링현미경 [scanning tunneling microscope(STM)]
NOR형 플래시 메모리
터널 다이오드 [ tunnel diode ]
-자연현
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을 이동시키면서 표면의 특성을 측정한다. 1980년에 발명된 주사터널링현미경(STM)은 주사탐침현미경을 설명하기에 아주 좋은 사례이다. 이 현미경은 1억배의 배율로 고체표면상의 원자를 관찰할 수 있다. 고체표면에 존재하는 원자주변의 전
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주사터널링현미경, 원자력반발현미경(AFM), 근접장투과현미경(SNOM) 등이 개발되면서 나노구조나 단일 분자의 특성을 측정하고 조절할 수 있게 된 것이 현재의 나노기술 발전에 커다란 영향을 미침 기술의 배경 및 발전과정
기술의 기본
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주사하는 주사터널링현미경(Scanning Tunneling Microscopy, STM)이 최초의 원자현미경이다. 이어 등장한 것이 원자힘현미경(Atomic Force Microscopy, AFM)으로, 현재 가장 널리 쓰이는 원자현미경이다. STM의 텅스텐 바늘 대신 마이크로머시닝으로 제조된 캔틸
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현미경이 계속 발명되고 있다. 주사탐침현미경(scanningprobe microscope, SPM)이라고 불리는 새로운 종류의 현미경은 피검체의 표면에 뾰족한탐침(probe)을 이동시키면서 표면의 특성을 측정한다. 1980년에 발명 된 주사터널링현미경 (scanning tunneling micr
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