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measurements of the microwave surface impedance of a YBa2Cu3O7-δ film on copper substrate, Journal of Applied Phys. vol.87, No. 8 (2000)
[11] Jung Hun Lee et al., Measurements of the Microwave Loss of TiO2 Using an Extremely High-Q Sapphire-Loaded Cavity Resonator with YBa2Cu3O7-δ Endplates, J. Kore
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measurement of productive efficiency. Journal of the Royal Statistical Society: Series A (General), 120(3), 253-281.
36) Cooper, W. W., Seiford, L. M., & Tone, K. (2000). Data envelopment analysis. Handbook on data envelopment analysis, 1-40.
37) Charnes, A., Cooper, W. W., & Rhodes, E. (1978). Meas
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capacitors
2.1 Metal-semiconductor workfunction difference
2.2 Oxide charge
2.2.1 General information
2.2.2 Mobile ions
2.2.3 Fixed charge
2.2.4 Interfacial traps
2.2.5 Oxide trapped charge
3. C-V measurement and main uses of C-V curve
3.1 C-V curve의 장단점
3.2 Criteria fo
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