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absorption spectroscopy)
(1) AAS원리
(2) AAS의 구성
(3) 감도 및 검출 한계
1. 감도
2. 검출한계
(4) 적용범위
(5) 분석방법
2. XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy)
(1) 기본원리
(2) ESCA 장치의 주요 구조
(3) 광전자 스펙트럼 (Photoelectron spectrum)
(4) 화학적
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구성장치
(3) 기존 장비와의 비교
9. AAS (atomic absorption spectroscopy)
(1) AAS원리
(2) AAS의 구성
(3) 감도 및 검출 한계
(4) 적용범위
(5) 분석방법
10. XPS (X-ray Photoelectron Spectroscopy)
(1) 기본원리
(2) ESCA 장치의 주요 구조
(3) 광전자 스펙트럼 (Photo
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X-ray source
XPS에 사용되는 photon은 고체를 1㎛ 정도 투과하여, 광전효과가 발생한 표면의 원자와의 상호 작용으로 원소의 내각으로부터 전자를 방출시킵니다. 광원으로는, soft X-ray를 발생하는 Mg Kα1,2(1253.6 eV) 와 Al Kα1,2(1486.6 eV)를 사용하는데,
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X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS)로 확인하였으며, 설화이드 용액에서 노블한 합금의 부식과 녹슴의 저항력의 향상에 대한 Pd의 룰도 연구 하였다. ABSTRACT
Introduction
실험 방법
결과
1. 부식 전위 측정
2. 동 전위 분극의 행동
3. Spectrocol
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원리, 응용분야
1. 유도결합 플라즈마 방출 분광기
2. 푸리에 변환 적외선 분광기
3. 고분별능 핵자기 공명분광기
4. 자기광 타원 분광기
5. 광전자 분광기(X-Ray Photoelectron Spectroscopy)
6. 고속레이저 분광기(Fast Laser Spectroscopy System)
7. 전자스
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