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함수 발생기(Function generator),
1N4004(1개), 1N4728(1개), 저항(resistor), 커패시터(capacitor) 등.
3. 기초 이론
● 다이오드
- 다이오드란 전압을 일정한 방향으로 인가했을때만 전류가 흐르는 정류작용을 하는 2단자 반도체이다. 주로 전류를 한 쪽
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서플라이, 디지털 멀티미터, 오실로스코프, 함수 발생기(Function generator), 연산 증폭기(LM741), 저항 등. 1. 실험 개요
2. 실험 기자재 및 부품
3. 배경 이론(실험 이론)
4. 실험 절차 및 Pspice Simulation 결과
5. 분석 및 고찰 사항
6. 참고문헌
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서플라이, 디지털 멀티미터, 오실로스코프, 함수 발생기(Function generator), 연산 증폭기(LM741), 저항 등. 1. 실험 개요
2. 실험 기자재 및 부품
3. 배경 이론(실험 이론)
4. 실험 절차 및 Pspice Simulation 결과
5. 분석 및 고찰 사항
6. 참고문헌
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오실로스코프, 함수 발생기(Function generator), 2n7000 (NMOS) 1개, 저항, 커패시터, FQP17P10(PMOS) 2개 (모의실험은 FDC6322CP 사용) 1. 실험 개요
2. 실험 기자재 및 부품
3. 배경 이론(실험 이론)
4. 실험 절차 및 Pspice Simulation 결과
5. 고찰
6. 참고문헌
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디지털 멀티미터, 오실로스코프, 함수 발생기(Function generator), Q2N4401(혹은 Q2N2222) 1개, 저항, 커패시터 등 1. 실험 개요
2. 실험 기자재 및 부품
3. 배경 이론(실험 이론)
4. 실험 절차 및 Pspice Simulation 결과
5. 분석 및 고찰 사항
6. 참고문헌
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함수 발생기나 power supply, function generator, digital oscilloscope 등 장비의 오차도 무시 할 수 없다. 마지막으로 실험 시 저항 및 콘덴서의 값을 Multimeter로 직접 측정하여서 실험을 했더라면 좀 더 정확한 오차 요인을 찾을 수 있었을 것이라는 아쉬움
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Function Generator, Oscilloscope, Multimeter
- 필기도구
4. 실험결과
[1-1, 1-3] 출력 신호가 underdamping 응답을 갖도록 위와 같은 RLC 회로를 만들고 입력 VIN(t)에 계단파 입력을 인가하고 출력 파형을 측정하시오. 또한, 측정된 파형과 사전 보고서의 파형
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함수 발생기 등의 LabVIEW의 기능을 사용하여 완벽한 맞춤형의 12개의 통합된 인스트루먼트를 제공합니다.
NI ELVIS는 특별 구성된 USB 및 PCI 번들에서 사용가능하며, 계측, 회로, 마이크로컨트롤러 디자인을 설계, 시뮬레이션, 프로토타입 및 개념
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Function generator, Oscilloscope, Impedance analyzer, Bode analyzer)들의 사용법을 배우고 AC회로의 특성(교류회로와 인피던스)을 이해하는 실험이었다.
저번 주와 마찬가지로“Experiment 1”의 실험에서는 디지털 저항기 DMM , 디지털 커패시터 측정기 DMM을 사용
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함수 제작시 부정확한 결과 파형 발생하며 0 의 출력값을 가짐
=> 실수와 정수의 data type 캐스팅 문제 해결
4. 삼각함수의 x축 이동에 있어서의 문제 발생
=>PC (32bit) 와 달리 int형이 16bit형으로 설정되어 있음을 확인
5. 기본 제공 함수와 AM
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